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Strong hybridization in vanadium oxides: evidence from photoemission and absorption spectroscopy
Strong hybridization in vanadium oxides: evidence from photoemission and absorption spectroscopy
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Strong hybridization in vanadium oxides: evidence from photoemission and absorption spectroscopy

Zimmermann, R ; Claessen, R ; Reinert, F ; Steiner, P ; Hüfner, S

Journal of physics. Condensed matter, 1998-06, Vol.10 (25), p.5697-5716 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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2
The electronic structure of PdO found by photoemission (UPS and XPS) and inverse photoemission (BIS)
The electronic structure of PdO found by photoemission (UPS and XPS) and inverse photoemission (BIS)
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The electronic structure of PdO found by photoemission (UPS and XPS) and inverse photoemission (BIS)

Pillo, Th ; Zimmermann, R ; Steiner, P ; Hüfner, S

Journal of physics. Condensed matter, 1997-05, Vol.9 (19), p.3987-3999 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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3
Electronic structure of 3d-transition-metal oxides: on-site Coulomb repulsion versus covalency
Electronic structure of 3d-transition-metal oxides: on-site Coulomb repulsion versus covalency
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Electronic structure of 3d-transition-metal oxides: on-site Coulomb repulsion versus covalency

Zimmermann, R ; Steiner, P ; Claessen, R ; Reinert, F ; Hüfner, S ; Blaha, P ; Dufek, P

Journal of physics. Condensed matter, 1999-02, Vol.11 (7), p.1657-1682 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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4
Micromachining applications of porous silicon
Micromachining applications of porous silicon
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Micromachining applications of porous silicon

Steiner, P. ; Lang, W.

Thin solid films, 1995-01, Vol.255 (1), p.52-58 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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5
Silicon dioxide sacrificial layer etching in surface micromachining
Silicon dioxide sacrificial layer etching in surface micromachining
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Silicon dioxide sacrificial layer etching in surface micromachining

Bühler, J ; Steiner, F-P ; Baltes, H

Journal of micromechanics and microengineering, 1997-03, Vol.7 (1), p.R1-R13 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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6
Influence of the spin gap on the normal state transport in YBa2Cu4O8
Influence of the spin gap on the normal state transport in YBa2Cu4O8
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Influence of the spin gap on the normal state transport in YBa2Cu4O8

BUCHER, B ; STEINER, P ; KARPINSKI, J ; KALDIS, E ; WACHTER, P

Physical review letters, 1993-03, Vol.70 (13), p.2012-2015 [Periódico revisado por pares]

Ridge, NY: American Physical Society

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7
Current-induced light emission from a porous silicon device
Current-induced light emission from a porous silicon device
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Current-induced light emission from a porous silicon device

Richter, A. ; Steiner, P. ; Kozlowski, F. ; Lang, W.

IEEE electron device letters, 1991-12, Vol.12 (12), p.691-692 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Offset reduction in Hall devices by continuous spinning current method
Offset reduction in Hall devices by continuous spinning current method
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Offset reduction in Hall devices by continuous spinning current method

Steiner, R. ; Maier, Ch ; Hàberli, A. ; Steiner, F.-P. ; Baltes, H.

Sensors and actuators. A, Physical, 1998-04, Vol.66 (1), p.167-172 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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9
The interface of Mn, Fe, Co and Au metal films on NiO( [formula omitted]), investigated by photoemission and low energy electron diffraction
The interface of Mn, Fe, Co and Au metal films on NiO( [formula omitted]), investigated by photoemission and low energy electron diffraction
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The interface of Mn, Fe, Co and Au metal films on NiO( [formula omitted]), investigated by photoemission and low energy electron diffraction

de Masi, R ; Reinicke, D ; Müller, F ; Steiner, P ; Hüfner, S

Surface science, 2002-09, Vol.515 (2), p.523-537 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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10
SPHERE Instrumentation Software in the Construction and Integration Phases
SPHERE Instrumentation Software in the Construction and Integration Phases
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

SPHERE Instrumentation Software in the Construction and Integration Phases

BARUFFOLO, A ; BRUNO, P ; ZINS, G ; FANTINEL, D ; FEDRIGO, E ; GLUCK, L ; KIEKEBUSCH, M ; MICALLEF, M ; POPOVIC, D ; SALASNICH, B ; STEINER, P

Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2010, Vol.7740

Bellingham, Wash: SPIE

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