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1	$Electron backscattered diffraction using a new monolithic direct detector: High resolution and fast acquisition$ $Electron backscattered diffraction using a new monolithic direct detector: High resolution and fast acquisition$ Material Type: Artigo		Electron backscattered diffraction using a new monolithic direct detector: High resolution and fast acquisition Wang, Fulin ; Echlin, McLean P. ; Taylor, Aidan A. ; Shin, Jungho ; Bammes, Benjamin ; Levin, Barnaby D. A. ; De Graef, Marc ; Pollock, Tresa M. ; Gianola, Daniel S. Ultramicroscopy, 2021-01, Vol.220 (C) [Periódico revisado por pares] United States: Elsevier Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	$Thickness and defocus dependence of inter-atomic electric fields measured by scanning diffraction$ $Thickness and defocus dependence of inter-atomic electric fields measured by scanning diffraction$ Material Type: Artigo		Thickness and defocus dependence of inter-atomic electric fields measured by scanning diffraction Addiego, Christopher ; Gao, Wenpei ; Pan, Xiaoqing Ultramicroscopy, 2020-01, Vol.208 (C) [Periódico revisado por pares] United States: Elsevier Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Morphology and microstructural analysis of bioactive-loaded micro/nanocarriers via microscopy techniques; CLSM/SEM/TEM/AFM Falsafi, Seid Reza ; Rostamabadi, Hadis ; Assadpour, Elham ; Jafari, Seid Mahdi Advances in colloid and interface science, 2020-06, Vol.280, p.102166, Article 102166 [Periódico revisado por pares] Netherlands: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Domain structures and Prco antisite point defects in double-perovskite PrBaCo2O5+δ and PrBa0.8Ca0.2Co2O5+δ Ding, Yong ; Chen, Yu ; Pradel, Ken C. ; Zhang, Weilin ; Liu, Meilin ; Wang, Zhong Lin Ultramicroscopy, 2018-10, Vol.193 (C) [Periódico revisado por pares] United States: Elsevier Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		New hardware and workflows for semi-automated correlative cryo-fluorescence and cryo-electron microscopy/tomography Schorb, Martin ; Gaechter, Leander ; Avinoam, Ori ; Sieckmann, Frank ; Clarke, Mairi ; Bebeacua, Cecilia ; Bykov, Yury S. ; Sonnen, Andreas F.-P. ; Lihl, Reinhard ; Briggs, John A.G. Journal of structural biology, 2017-02, Vol.197 (2), p.83-93 [Periódico revisado por pares] United States: Elsevier Inc Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		Advanced imaging techniques for assessment of structure, composition and function in biofilm systems Neu, Thomas R ; Manz, Bertram ; Volke, Frank ; Dynes, James J ; Hitchcock, Adam P ; Lawrence, John R FEMS microbiology ecology, 2010-04, Vol.72 (1), p.1-21 [Periódico revisado por pares] Oxford, UK: Oxford, UK : Blackwell Publishing Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Toward 3D imaging of corrosion at the nanoscale: Cross-sectional analysis of in-situ oxidized TEM samples Harlow, Wayne ; Taheri, Mitra L. Micron (Oxford, England : 1993), 2019-05, Vol.120 (C) [Periódico revisado por pares] United States: Elsevier Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Nanoscale probing of bandgap states on oxide particles using electron energy-loss spectroscopy Liu, Qianlang ; March, Katia ; Crozier, Peter A. Ultramicroscopy, 2017-07, Vol.178 (C) [Periódico revisado por pares] United States: Elsevier Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Correlated cryo-fluorescence and cryo-electron microscopy with high spatial precision and improved sensitivity Schorb, Martin ; Briggs, John A.G. Ultramicroscopy, 2014-08, Vol.143, p.24-32 [Periódico revisado por pares] Netherlands: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Expansion microscopy: A powerful nanoscale imaging tool for neuroscientists Gallagher, Brendan R. ; Zhao, Yongxin Neurobiology of disease, 2021-07, Vol.154, p.105362-105362, Article 105362 [Periódico revisado por pares] United States: Elsevier Inc Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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