Statistical process control (SPC) for double-bounded information Choosing wisely the parametric family for unit data
Diego Carvalho Nascimento Oilson Alberto Gonzatto Junior; David Elal-Olivero; Estefania Bonnail; Paulo Henrique Ferreira
Quality Engineering New York : Taylor and Francis v. 36, n. 3, p. 575-593
New York 2024
Localização:
ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação
(PROD-3162912 )(Acessar)