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Machine Learning Interpretability: A Survey on Methods and Metrics
Machine Learning Interpretability: A Survey on Methods and Metrics
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Machine Learning Interpretability: A Survey on Methods and Metrics

Carvalho, Diogo V. ; Pereira, Eduardo M. ; Cardoso, Jaime S.

Electronics (Basel), 2019-08, Vol.8 (8), p.832 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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A State-of-the-Art Survey on Deep Learning Theory and Architectures
A State-of-the-Art Survey on Deep Learning Theory and Architectures
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A State-of-the-Art Survey on Deep Learning Theory and Architectures

Alom, Md Zahangir ; Taha, Tarek M. ; Yakopcic, Chris ; Westberg, Stefan ; Sidike, Paheding ; Nasrin, Mst Shamima ; Hasan, Mahmudul ; Van Essen, Brian C. ; Awwal, Abdul A. S. ; Asari, Vijayan K.

Electronics (Basel), 2019-03, Vol.8 (3), p.292 [Periódico revisado por pares]

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Past, Present, and Future of Face Recognition: A Review
Past, Present, and Future of Face Recognition: A Review
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Past, Present, and Future of Face Recognition: A Review

Adjabi, Insaf ; Ouahabi, Abdeldjalil ; Benzaoui, Amir ; Taleb-Ahmed, Abdelmalik

Electronics (Basel), 2020-08, Vol.9 (8), p.1188 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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The k-means Algorithm: A Comprehensive Survey and Performance Evaluation
The k-means Algorithm: A Comprehensive Survey and Performance Evaluation
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The k-means Algorithm: A Comprehensive Survey and Performance Evaluation

Ahmed, Mohiuddin ; Seraj, Raihan ; Islam, Syed Mohammed Shamsul

Electronics (Basel), 2020-08, Vol.9 (8), p.1295 [Periódico revisado por pares]

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Sentiment Analysis Based on Deep Learning: A Comparative Study
Sentiment Analysis Based on Deep Learning: A Comparative Study
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Sentiment Analysis Based on Deep Learning: A Comparative Study

Dang, Nhan Cach ; Moreno-García, María N. ; De la Prieta, Fernando

Electronics (Basel), 2020-03, Vol.9 (3), p.483 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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6
CNN Variants for Computer Vision: History, Architecture, Application, Challenges and Future Scope
CNN Variants for Computer Vision: History, Architecture, Application, Challenges and Future Scope
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CNN Variants for Computer Vision: History, Architecture, Application, Challenges and Future Scope

Bhatt, Dulari ; Patel, Chirag ; Talsania, Hardik ; Patel, Jigar ; Vaghela, Rasmika ; Pandya, Sharnil ; Modi, Kirit ; Ghayvat, Hemant

Electronics (Basel), 2021-10, Vol.10 (20), p.2470 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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7
A Review of Intrusion Detection Systems Using Machine and Deep Learning in Internet of Things: Challenges, Solutions and Future Directions
A Review of Intrusion Detection Systems Using Machine and Deep Learning in Internet of Things: Challenges, Solutions and Future Directions
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A Review of Intrusion Detection Systems Using Machine and Deep Learning in Internet of Things: Challenges, Solutions and Future Directions

Asharf, Javed ; Moustafa, Nour ; Khurshid, Hasnat ; Debie, Essam ; Haider, Waqas ; Wahab, Abdul

Electronics (Basel), 2020-07, Vol.9 (7), p.1177 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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8
A Survey on Knowledge Graph Embedding: Approaches, Applications and Benchmarks
A Survey on Knowledge Graph Embedding: Approaches, Applications and Benchmarks
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A Survey on Knowledge Graph Embedding: Approaches, Applications and Benchmarks

Dai, Yuanfei ; Wang, Shiping ; Xiong, Neal N. ; Guo, Wenzhong

Electronics (Basel), 2020-05, Vol.9 (5), p.750 [Periódico revisado por pares]

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A Deep Learning Sentiment Analyser for Social Media Comments in Low-Resource Languages
A Deep Learning Sentiment Analyser for Social Media Comments in Low-Resource Languages
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A Deep Learning Sentiment Analyser for Social Media Comments in Low-Resource Languages

Kastrati, Zenun ; Ahmedi, Lule ; Kurti, Arianit ; Kadriu, Fatbardh ; Murtezaj, Doruntina ; Gashi, Fatbardh

Electronics (Basel), 2021-05, Vol.10 (10), p.1133 [Periódico revisado por pares]

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10
A Comparative Analysis of Object Detection Metrics with a Companion Open-Source Toolkit
A Comparative Analysis of Object Detection Metrics with a Companion Open-Source Toolkit
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A Comparative Analysis of Object Detection Metrics with a Companion Open-Source Toolkit

Padilla, Rafael ; Passos, Wesley L. ; Dias, Thadeu L. B. ; Netto, Sergio L. ; da Silva, Eduardo A. B.

Electronics (Basel), 2021-02, Vol.10 (3), p.279 [Periódico revisado por pares]

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  5. Após 2019  (15.282)
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