Influence of the 'SI' / 'SI''O IND.2' interface roughness on electronic roughness
M C V Lopes Sebastião Gomes dos Santos Filho 1962-; Claus Martin Hasenack; V Baranauskas; Congress of the Brazilian Microelectronics Society (10. 1995 Canela); Ibero-American Microelectronics Conference (1. 1995 Canela)
Proceedings Porto Alegre : Instituto de Informatica da Ufrgs, 1995
Porto Alegre Instituto de Informatica da Ufrgs 1995
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Influence of the substrate potential drop on fully depleted soi mesfet threshold voltage at 77k
Marcelo Antonio Pavanello João Antonio Martino 1959-; Congress of the Brazilian Microelectronics Society (10. 1995 Canela); Ibero-American Microelectronics Conference (1. 1995 Canela)
Proceedings Porto Alegre : Instituto de Informatica da Ufrgs, 1995
Porto Alegre Instituto de Informatica da Ufrgs 1995
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Influence of the pecvd reactor architecture in deposition parameters in the structural and electrical characteristics of the a-'SI' h films
J P Bottecchia Adnei Melges de Andrade 1943-; Congress of the Brazilian Microelectronics Society (10. 1995 Canela); Ibero-American Microelectronics Conference (1. 1995 Canela)
Proceedings Porto Alegre : Instituto de Informatica da Ufrgs, 1995
Porto Alegre Instituto de Informatica da Ufrgs 1995
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