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1	Material Type: Artigo		Recent Progress in MBE Growth of CdTe and HgCdTe on (211)B GaAs Substrates Carmody, M. ; Yulius, A. ; Edwall, D. ; Lee, D. ; Piquette, E. ; Jacobs, R. ; Benson, D. ; Stoltz, A. ; Markunas, J. ; Almeida, A. ; Arias, J. Journal of electronic materials, 2012-10, Vol.41 (10), p.2719-2724 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Dielectric Properties of Ca0.7Bi0.3Ti0.7Cr0.3O3 (CBTC)–CaCu3Ti4O12 (CCTO) Composite Mallmann, E. J. J. ; Silva, M. A. S. ; Sombra, A. S. B. ; Botelho, M. A. ; Mazzetto, S. E. ; de Menezes, A. S. ; Almeida, A. F. L. ; Fechine, P. B. A. Journal of electronic materials, 2015-01, Vol.44 (1), p.295-302 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		TEM Characterization of HgCdTe/CdTe Grown on GaAs(211)B Substrates Kim, Jae Jin ; Jacobs, R. N. ; Almeida, L. A. ; Jaime-Vasquez, M. ; Nozaki, C. ; Smith, David J. Journal of electronic materials, 2013-11, Vol.42 (11), p.3142-3147 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Impact of Tellurium Precipitates in CdZnTe Substrates on MBE HgCdTe Deposition Benson, J. D. ; Bubulac, L. O. ; Smith, P. J. ; Jacobs, R. N. ; Markunas, J. K. ; Jaime-Vasquez, M. ; Almeida, L. A. ; Stoltz, A. ; Wijewarnasuriya, P. S. ; Brill, G. ; Chen, Y. ; Peterson, J. ; Reddy, M. ; Vilela, M. F. ; Johnson, S. M. ; Lofgreen, D. D. ; Yulius, A. ; Bostrup, G. ; Carmody, M. ; Lee, D. ; Couture, S. Journal of electronic materials, 2014-11, Vol.43 (11), p.3993-3998 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		A Review of the Characterization Techniques for the Analysis of Etch Processed Surfaces of HgCdTe and Related Compounds Stoltz, A. J. ; Benson, J. D. ; Jaime-Vasquez, M. ; Smith, P. J. ; Almeida, L. A. ; Jacobs, R. ; Markunas, J. ; Brogden, K. ; Brown, A. ; Lennon, C. ; Maloney, P. ; Supola, N. Journal of electronic materials, 2014-09, Vol.43 (9), p.3708-3717 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		Reduction of Dislocation Density by Producing Novel Structures Stoltz, A. J. ; Benson, J. D. ; Jacobs, R. ; Smith, P. ; Almeida, L. A. ; Carmody, M. ; Farrell, S. ; Wijewarnasuriya, P. S. ; Brill, G. ; Chen, Y. Journal of electronic materials, 2012-10, Vol.41 (10), p.2949-2956 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Preparation and Study of Bismuth Rare-Earth Tungstate Composite Screen-Printed Thick Films Rocha, G.N. ; Melo, L.F.L. ; Dantas, S.M. ; Ayala, A.P. ; Sombra, A.S.B. ; Almeida, A.F.L. ; de Menezes, A.S. ; Fechine, P.B.A. Journal of electronic materials, 2013-04, Vol.42 (4), p.752-760 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		The Surface Kinetics of MBE-Grown CdTe (211)B During In Situ Cyclic Annealing Lennon, C. M. ; Almeida, L. A. ; Jacobs, R. N. ; Benson, J. D. ; Smith, P. J. ; Markunas, J. K. ; Arias, J. ; Pellegrino, J. Journal of electronic materials, 2013-11, Vol.42 (11), p.3344-3348 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Dislocation Analysis in (112)B HgCdTe/CdTe/Si Benson, J. D. ; Farrell, S. ; Brill, G. ; Chen, Y. ; Wijewarnasuriya, P. S. ; Bubulac, L. O. ; Smith, P. J. ; Jacobs, R. N. ; Markunas, J. K. ; Jaime-Vasquez, M. ; Almeida, L. A. ; Stoltz, A. ; Lee, U. ; Vilela, M. F. ; Peterson, J. ; Johnson, S. M. ; Lofgreen, D. D. ; Rhiger, D. ; Patten, E. A. ; Goetz, P. M. Journal of electronic materials, 2011-08, Vol.40 (8), p.1847-1853 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Analysis of Mesa Dislocation Gettering in HgCdTe/CdTe/Si(211) by Scanning Transmission Electron Microscopy Jacobs, R. N. ; Stoltz, A. J. ; Benson, J. D. ; Smith, P. ; Lennon, C. M. ; Almeida, L. A. ; Farrell, S. ; Wijewarnasuriya, P. S. ; Brill, G. ; Chen, Y. ; Salmon, M. ; Zu, J. Journal of electronic materials, 2013-11, Vol.42 (11), p.3148-3155 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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