Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Artigo
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Accurate calculation of pileup effects in PIXE spectra from first principlesBarradas, N. P. ; Reis, M. A.X-ray spectrometry, 2006-07, Vol.35 (4), p.232-237 [Periódico revisado por pares]Chichester, UK: John Wiley & Sons, LtdTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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DT2, a PIXE spectra simulation and fitting packageReis, M. A. ; Chaves, P. C. ; Alves, L. C. ; Barradas, N. P.X-ray spectrometry, 2008-03, Vol.37 (2), p.100-102 [Periódico revisado por pares]Chichester, UK: John Wiley & Sons, LtdTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Detection angle resolved PIXE and the equivalent depth concept for thin film characterizationReis, M. A. ; Chaves, P. C. ; Corregidor, V. ; Barradas, N. P. ; Alves, E. ; Dimroth, F. ; Bett, A. W.X-ray spectrometry, 2005-07, Vol.34 (4), p.372-375 [Periódico revisado por pares]Chichester, UK: John Wiley & Sons, LtdTexto completo disponível |
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4 |
Material Type: Artigo
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PIXE analysis of multilayer targetsReis, M. A. ; Barradas, N. P. ; Chaves, P. C. ; Taborda, A.X-ray spectrometry, 2011-05, Vol.40 (3), p.153-156 [Periódico revisado por pares]Chichester, UK: John Wiley & Sons, LtdTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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PIXE analysis of multilayer targets: PIXE 2010REIS, M. A ; BARRADAS, N. P ; CHAVES, P. C ; TABORDA, AX-ray spectrometry, 2011, Vol.40 (3), p.153-156 [Periódico revisado por pares]Chichester: WileyTexto completo disponível |