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Nome da Publicação:
X-Ray Spectrometry
Wiley Online Library Journals Frontfile Complete
Nome da Publicação:
X-Ray Spectrometry
Wiley Online Library Journals Frontfile Complete
| Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
|---|---|---|---|
| 1 |
Material Type: Artigo
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DT2, a PIXE spectra simulation and fitting packageReis, M. A. ; Chaves, P. C. ; Alves, L. C. ; Barradas, N. P.X-ray spectrometry, 2008-03, Vol.37 (2), p.100-102 [Periódico revisado por pares]Chichester, UK: John Wiley & Sons, LtdTexto completo disponível |
| 2 |
Material Type: Artigo
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Detection angle resolved PIXE and the equivalent depth concept for thin film characterizationReis, M. A. ; Chaves, P. C. ; Corregidor, V. ; Barradas, N. P. ; Alves, E. ; Dimroth, F. ; Bett, A. W.X-ray spectrometry, 2005-07, Vol.34 (4), p.372-375 [Periódico revisado por pares]Chichester, UK: John Wiley & Sons, LtdTexto completo disponível |
| 3 |
Material Type: Artigo
|
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PIXE analysis of multilayer targetsReis, M. A. ; Barradas, N. P. ; Chaves, P. C. ; Taborda, A.X-ray spectrometry, 2011-05, Vol.40 (3), p.153-156 [Periódico revisado por pares]Chichester, UK: John Wiley & Sons, LtdTexto completo disponível |
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