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Widely Wavelength-Tunable Mode-Locked Fiber Laser Based on a 45°-Tilted Fiber Grating and Polarization Maintaining Fiber
Widely Wavelength-Tunable Mode-Locked Fiber Laser Based on a 45°-Tilted Fiber Grating and Polarization Maintaining Fiber
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Widely Wavelength-Tunable Mode-Locked Fiber Laser Based on a 45°-Tilted Fiber Grating and Polarization Maintaining Fiber

Bingbing Lu ; Chuanhang Zou ; Qianqian Huang ; Zhijun Yan ; Zhikun Xing ; Al Araimi, Mohammed ; Rozhin, Aleksey ; Kaiming Zhou ; Lin Zhang ; Chengbo Mou

Journal of lightwave technology, 2019-07, Vol.37 (14), p.3571-3578 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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A Single Longitudinal-Mode Tunable Fiber Ring Laser Based on Stimulated Rayleigh Scattering in a Nonuniform Optical Fiber
A Single Longitudinal-Mode Tunable Fiber Ring Laser Based on Stimulated Rayleigh Scattering in a Nonuniform Optical Fiber
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A Single Longitudinal-Mode Tunable Fiber Ring Laser Based on Stimulated Rayleigh Scattering in a Nonuniform Optical Fiber

Zhu, Tao ; Bao, Xiaoyi ; Chen, Liang

Journal of lightwave technology, 2011-06, Vol.29 (12), p.1802-1807 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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3
Fast fiber-laser alignment: beam spot-size method
Fast fiber-laser alignment: beam spot-size method
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Fast fiber-laser alignment: beam spot-size method

Rong Zhang ; Jingyan Guo ; Shi, F.G.

Journal of lightwave technology, 2005-03, Vol.23 (3), p.1083-1087 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Integrated Wavelength-Insensitive Differential Laser Doppler Velocimeter Using Planar Lightwave Circuit
Integrated Wavelength-Insensitive Differential Laser Doppler Velocimeter Using Planar Lightwave Circuit
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Integrated Wavelength-Insensitive Differential Laser Doppler Velocimeter Using Planar Lightwave Circuit

Maru, K. ; Fujii, Y.

Journal of lightwave technology, 2009-11, Vol.27 (22), p.5078-5083 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Spatially independent VCSEL models for the simulation of diffusive turn-off transients
Spatially independent VCSEL models for the simulation of diffusive turn-off transients
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Spatially independent VCSEL models for the simulation of diffusive turn-off transients

Morikuni, J.J. ; Mena, P.V. ; Harton, A.V. ; Wyatt, K.W. ; Kang, S.-M.

Journal of lightwave technology, 1999-01, Vol.17 (1), p.95-102 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
Tapered polymer single-mode waveguides for mode transformation
Tapered polymer single-mode waveguides for mode transformation
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Tapered polymer single-mode waveguides for mode transformation

Fan, R.S. ; Hooker, R.B.

Journal of lightwave technology, 1999-03, Vol.17 (3), p.466-474 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
Erbium-doped glasses for fiber amplifiers at 1500 nm
Erbium-doped glasses for fiber amplifiers at 1500 nm
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Erbium-doped glasses for fiber amplifiers at 1500 nm

Miniscalco, W.J.

Journal of lightwave technology, 1991-02, Vol.9 (2), p.234-250 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Tunable planar polymer Bragg gratings having exceptionally low polarization sensitivity
Tunable planar polymer Bragg gratings having exceptionally low polarization sensitivity
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Tunable planar polymer Bragg gratings having exceptionally low polarization sensitivity

Han Zou ; Beeson, K.W. ; Shacklette, L.W.

Journal of lightwave technology, 2003-04, Vol.21 (4), p.1083-1088 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
Bessel-Thompson Filter Using Double-Series-Coupled Microring Resonator
Bessel-Thompson Filter Using Double-Series-Coupled Microring Resonator
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Bessel-Thompson Filter Using Double-Series-Coupled Microring Resonator

Kato, T. ; Kokubun, Y.

Journal of lightwave technology, 2008-11, Vol.26 (22), p.3694-3698 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
Novel finite element analysis of optical waveguide discontinuity problems
Novel finite element analysis of optical waveguide discontinuity problems
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Novel finite element analysis of optical waveguide discontinuity problems

Obayya, S.S.A.

Journal of lightwave technology, 2004-05, Vol.22 (5), p.1420-1425 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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