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1
Scaling to the end of silicon with EDGE architectures
Scaling to the end of silicon with EDGE architectures
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Scaling to the end of silicon with EDGE architectures

Burger, D. ; Keckler, S.W. ; McKinley, K.S. ; Dahlin, M. ; John, L.K. ; Lin, C. ; Moore, C.R. ; Burrill, J. ; McDonald, R.G. ; Yoder, W.

Computer (Long Beach, Calif.), 2004-07, Vol.37 (7), p.44-55 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
A review of literature on parallel constraint solving
A review of literature on parallel constraint solving
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A review of literature on parallel constraint solving

GENT, IAN P. ; MIGUEL, IAN ; NIGHTINGALE, PETER ; MCCREESH, CIARAN ; PROSSER, PATRICK ; MOORE, NEIL C. A. ; UNSWORTH, CHRIS

Theory and practice of logic programming, 2018-09, Vol.18 (5-6), p.725-758 [Periódico revisado por pares]

Cambridge, UK: Cambridge University Press

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3
Managing the transition from complexity to elegance: Knowing when you have a problem
Managing the transition from complexity to elegance: Knowing when you have a problem
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Managing the transition from complexity to elegance: Knowing when you have a problem

Moore, C.

IEEE MICRO, 2003-09, Vol.23 (5), p.88-87 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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4
HAAR WAVELET ANALYSIS OF CLIMATIC TIME SERIES
HAAR WAVELET ANALYSIS OF CLIMATIC TIME SERIES
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

HAAR WAVELET ANALYSIS OF CLIMATIC TIME SERIES

ZHANG, ZHIHUA ; MOORE, JOHN C ; GRINSTED, ASLAK

International journal of wavelets, multiresolution and information processing, 2014-03, Vol.12 (2), p.1450020-1-1450020-11 [Periódico revisado por pares]

Singapore: World Scientific Publishing Company

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5
Beyond the Personal Software Process: Metrics collection and analysis for the differently disciplined
Beyond the Personal Software Process: Metrics collection and analysis for the differently disciplined
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Beyond the Personal Software Process: Metrics collection and analysis for the differently disciplined

Johnson, P.M. ; Hongbing Kou ; Agustin, J. ; Chan, C. ; Moore, C. ; Miglani, J. ; Shenyan Zhen ; Doane, W.E.J.

25th International Conference on Software Engineering, 2003. Proceedings, 2003, p.641-646

IEEE

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6
Exploiting ILP, TLP, and DLP with the polymorphous trips architecture
Exploiting ILP, TLP, and DLP with the polymorphous trips architecture
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Exploiting ILP, TLP, and DLP with the polymorphous trips architecture

Sankaralingam, K. ; Nagarajan, R. ; Haiming Liu ; Changkyu Kim ; Jaehyuk Huh ; Burger, D. ; Keckler, S.W. ; Moore, C.

IEEE MICRO, 2003-11, Vol.23 (6), p.46-51 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos: IEEE

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7
Automated software configuration in the MONSOON system
Automated software configuration in the MONSOON system
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Automated software configuration in the MONSOON system

Daly, Philip N ; Buchholz, Nick C ; Moore, Peter C

Proceedings of SPIE, 2004, Vol.5496, p.382-391

SPIE

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8
Estimating the Gaze of a Virtuality Human
Estimating the Gaze of a Virtuality Human
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Estimating the Gaze of a Virtuality Human

Roberts, D. J. ; Rae, J. ; Duckworth, T. W. ; Moore, C. M. ; Aspin, R.

IEEE transactions on visualization and computer graphics, 2013-04, Vol.19 (4), p.681-690 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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9
Scalable hardware memory disambiguation for high-ILP processors
Scalable hardware memory disambiguation for high-ILP processors
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Scalable hardware memory disambiguation for high-ILP processors

Sethumadhavan, S. ; Desikan, R. ; Burger, D. ; Moore, C.R. ; Keckler, S.W.

IEEE MICRO, 2004-11, Vol.24 (6), p.118-127 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos: IEEE

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10
Micro's top picks from microarchitecture conferences
Micro's top picks from microarchitecture conferences
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Micro's top picks from microarchitecture conferences

Moore, C. ; Rudd, K.W. ; Lee, R.B. ; Bose, P.

IEEE MICRO, 2003-11, Vol.23 (6), p.8-10 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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