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The BaBar data reconstruction control system
The BaBar data reconstruction control system
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The BaBar data reconstruction control system

Ceseracciu, A. ; Piemontese, M. ; Tehrani, F.S. ; Pulliam, T.M. ; Galeazzi, F.

IEEE transactions on nuclear science, 2005-08, Vol.52 (4), p.919-926 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Development of radiation-hard materials for microstrip detectors
Development of radiation-hard materials for microstrip detectors
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Development of radiation-hard materials for microstrip detectors

Dubbs, T. ; Kroeger, W. ; Nissen, T. ; Pulliam, T. ; Roberts, D. ; Rowe, W.A. ; Sadrozinski, H.F.-W. ; Seiden, A. ; Thomas, B. ; Webster, A. ; Alers, G.

IEEE Transactions on Nuclear Science, 1999-08, Vol.46 (4), p.839-843 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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3
The BaBar silicon-vertex tracker: performance, running experience, and radiation-damage studies
The BaBar silicon-vertex tracker: performance, running experience, and radiation-damage studies
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The BaBar silicon-vertex tracker: performance, running experience, and radiation-damage studies

Re, V. ; Borean, C. ; Bozzi, C. ; Carassiti, V. ; Ramusino, A.C. ; Piemontese, L. ; Breon, A.B. ; Brown, D. ; Clark, A.R. ; Goozen, F. ; Hernikl, C. ; Kerth, L.T. ; Gritsan, A. ; Lynch, G. ; Perazzo, A. ; Roe, N.A. ; Zizka, G. ; Roberts, D. ; Schieck, J. ; Brenna, E. ; Citterio, A. ; Lanni, F. ; Palombo, F. ; Ratti, L. ; Manfredi, P.F. ; Angelini, C. ; Batignani, G. ; Bettarini, S. ; Bondioli, M. ; Bosi, F. ; Bucci, F. ; Calderini, G. ; Carpinelli, A. ; Ceccanti, M. ; Forti, F. ; Gagliardi, D. ; Giorgi, M.A. ; Lusiani, A. ; Mammini, P. ; Morganti, M. ; Morsani, F. ; Neri, N. ; Paoloni, E. ; Profeti, A. ; Sandrelli, F. ; Simi, G. ; Triggiani, G. ; Walsh, J. ; Burchat, P. ; Cheng, C. ; Kirkby, D. ; Meyer, T.I. ; Roat, C. ; Bona, A. ; Bianchi, F. ; Gamba, D. ; Trapani, P. ; Bosisio, L. ; Della Ricca, G. ; Dittongo, S. ; Lanceri, L. ; Pompili, A. ; Poropat, P. ; Rashevskaia, I. ; Burke, S. ; Callahan, D. ; Campagnari, C. ; Dahmes, B. ; Hale, D. ; Hart, P. ; Kuznetsova, N. ; Kyre, S. ; Long, O. ; May, J. ; Mazur, M. ; Richman, J. ; Verkerke, W. ; Witherell, M. ; Beringer, J. ; Eisner, A.A. ; Frey, A. ; Grillo, A.A. ; Grothe, A. ; Johnson, R.P. ; Kroeger, W. ; Lockman, W.S. ; Pulliam, T. ; Rowe, W. ; Schmitz, R.E. ; Seiden, A. ; Spencer, E.N. ; Turri, M. ; Walkoviak, W. ; Wilder, M. ; Wilson, M. ; Charles, E. ; Elmer, P. ; Nielsen, J. ; Orejudos, W. ; Zobernig, H.

IEEE transactions on nuclear science, 2002-12, Vol.49 (6), p.3284-3289 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Performance, radiation damage, and future plans of the BABAR silicon vertex tracker
Performance, radiation damage, and future plans of the BABAR silicon vertex tracker
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Performance, radiation damage, and future plans of the BABAR silicon vertex tracker

Re, V. ; Kirkby, D. ; Bruinsma, M. ; Berryhill, J. ; Burke, S. ; Callahan, D. ; Campagnari, C. ; Dahmes, B. ; Hale, D. ; Hart, P. ; Kyre, S. ; Levy, S. ; Long, O. ; Mazur, M. ; Richman, J. ; Stoner, J. ; Verkerke, W. ; Beringer, J. ; Beck, T. ; Eisner, A.M. ; Grothe, M. ; Lockman, W.S. ; Pulliam, T. ; Seiden, A. ; Spradlin, P. ; Walkowiak, W. ; Wilson, M. ; Borean, C. ; Bozzi, C. ; Piemontese, L. ; Breon, A.B. ; Brown, D. ; Charles, E. ; Clark, A.R. ; Dardin, S. ; Goozen, F. ; Kerth, L.T. ; Gritsan, A. ; Lynch, G. ; Perazzo, A. ; Roe, N.A. ; Zizka, G. ; Lillard, V. ; Roberts, D. ; Brenna, E. ; Citterio, M. ; Lanni, F. ; Palombo, F. ; Ratti, L. ; Manfredi, P.F. ; Mandelli, E. ; Angelini, C. ; Batignani, G. ; Bettarini, S. ; Bondioli, M. ; Bosi, F. ; Bucci, F. ; Calderini, G. ; Carpinelli, M. ; Ceccanti, M. ; Forti, F. ; Gagliardi, D. ; Giorgi, M.A. ; Lusiani, A. ; Mammini, P. ; Marchiori, G. ; Morganti, M. ; Morsani, F. ; Neri, N. ; Paoloni, E. ; Profeti, A. ; Rama, M. ; Rizzo, G. ; Sandrelli, F. ; Simi, G. ; Walsh, J. ; Elmer, P. ; Burchat, P. ; Cheng, C. ; Edwards, A.J. ; Meyer, T.I. ; Petersen, B.A. ; Roat, C. ; Bona, M. ; Bianchi, F. ; Gamba, D. ; Trapani, P. ; Bosisio, L. ; Della Ricca, G. ; Dittongo, S. ; Lanceri, L. ; Rashevskaia, I. ; Vitale, L. ; Vuagnin, G. ; Datta, M. ; Liu, R. ; Mihalyi, A.

IEEE transactions on nuclear science, 2004-10, Vol.51 (5), p.2298-2301 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Noise determination in silicon micro strips
Noise determination in silicon micro strips
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Noise determination in silicon micro strips

Dubbs, T. ; Kashigin, S. ; Kratzer, M. ; Kroeger, W. ; Pulliam, T. ; Sadrozinski, H.F.-W. ; Spencer, E. ; Wichmann, R. ; Wilder, M. ; Bialas, W. ; Dabrowski, W. ; Unno, Y. ; Ohsugi, T.

IEEE Transactions on Nuclear Science, 1996-06, Vol.43 (3), p.1119-1122 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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6
Efficiency of non-uniformly irradiated double-sided silicon strip detectors
Efficiency of non-uniformly irradiated double-sided silicon strip detectors
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Efficiency of non-uniformly irradiated double-sided silicon strip detectors

Dubbs, T. ; Kashigin, S. ; Kratzer, M. ; Kroeger, W. ; Pulliam, T. ; Sadrozinski, H.F.-W. ; Schwab, M. ; Spencer, E. ; Wichmann, R. ; Wilder, M. ; Unno, Y. ; Ohsugi, T.

IEEE Transactions on Nuclear Science, 1996-06, Vol.43 (3), p.1142-1145 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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7
Signal-to-noise in silicon microstrip detectors with binary readout
Signal-to-noise in silicon microstrip detectors with binary readout
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Signal-to-noise in silicon microstrip detectors with binary readout

DeWitt, J. ; Dorfan, D. ; Dubbs, T. ; Grillo, A. ; Hubbard, B. ; Kashigin, S. ; Noble, K. ; Pulliam, T. ; Rahn, J. ; Rowe, W.A. ; Sadrozinski, H.F.-W. ; Seiden, A. ; Spencer, E. ; Webster, A. ; Wilder, M. ; Williams, D.C. ; Ciocio, A. ; Collins, T. ; Kipnis, I. ; Spieler, H. ; Iwasaki, H. ; Kohriki, T. ; Kondo, T. ; Terada, S. ; Unno, Y. ; Iwata, Y. ; Ohmoto, T. ; Ohsugi, T. ; Yoshikawa, M. ; Takashima, R. ; Maeohmichi, H. ; Takahata, M. ; Tamura, N.

IEEE Transactions on Nuclear Science, 1995-08, Vol.42 (4), p.445-450 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Characterization of an irradiated double-sided silicon strip detector with fast binary readout electronics in a pion beam
Characterization of an irradiated double-sided silicon strip detector with fast binary readout electronics in a pion beam
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Characterization of an irradiated double-sided silicon strip detector with fast binary readout electronics in a pion beam

Unno, Y. ; Kohriki, T. ; Kendo, T. ; Iwasaki, H. ; Terada, S. ; Takahata, M. ; Tamura, N. ; Maeohmichi, H. ; Ohmoto, T. ; Yoshikawa, M. ; Ohyama, H. ; Handa, T. ; Iwata, Y. ; Ohsugi, T. ; Haber, C. ; Siegrist, J. ; Spieler, H. ; Dubbs, T. ; Grillo, A. ; Hubbard, B. ; Kashigin, S. ; Kroeger, W. ; Noble, K. ; O'Shaughnessy, K. ; Pulliam, T. ; Rowe, W.A. ; Sadrozinski, H.F.-W. ; Seiden, A. ; Spencer, E. ; Webster, A. ; Wichmann, R. ; Wilder, M. ; Takashima, R.

IEEE Transactions on Nuclear Science, 1996-06, Vol.43 (3), p.1175-1179 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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