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1	Material Type: Artigo		Investigation and reduction of RF loss induced by Al diffusion at the AlN/Si(111) interface in GaN-based HEMT buffer stacks Mauder, C ; Hahn, H ; Marx, M ; Gao, Z ; Oligschlaeger, R ; Zweipfennig, T ; Noculak, A ; Negra, R ; Kalisch, H ; Vescan, A ; Heuken, M Semiconductor science and technology, 2021-07, Vol.36 (7), p.75008 [Periódico revisado por pares] IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Metalorganic Vapor-Phase Epitaxy Growth Parameters for Two-Dimensional MoS2 Marx, M. ; Grundmann, A. ; Lin, Y.-R. ; Andrzejewski, D. ; Kümmell, T. ; Bacher, G. ; Heuken, M. ; Kalisch, H. ; Vescan, A. Journal of electronic materials, 2018-02, Vol.47 (2), p.910-916 [Periódico revisado por pares] New York: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Backside Infrared Interferometric Patterned Wafer Thickness Sensing for Through-Silicon-Via (TSV) Etch Metrology Weng Hong Teh ; Marx, D ; Grant, D ; Dudley, R IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2010-08, Vol.23 (3), p.419-422 [Periódico revisado por pares] New York, NY: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Ata de Congresso		High-resolution optical metrology Silver, R. M ; Attota, R ; Stocker, M ; Bishop, M ; Howard, L ; Germer, T ; Marx, E ; Davidson, M ; Larrabee, R Proc. SPIE, 2005, Vol.5752, p.67-79 Bellingham WA: SPIE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Physics and technology of high temperature superconducting Josephson junctions Gross, R. ; Alff, L. ; Beck, A. ; Froehlich, O.M. ; Koelle, D. ; Marx, A. IEEE transactions on applied superconductivity, 1997-06, Vol.7 (2), p.2929-2935 [Periódico revisado por pares] New York, NY: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	$Inhibiting the TE1-mode diffraction losses in parallel-plate waveguides via slightly concave plates$ $Inhibiting the TE1-mode diffraction losses in parallel-plate waveguides via slightly concave plates$ Material Type: Ata de Congresso		Inhibiting the TE1-mode diffraction losses in parallel-plate waveguides via slightly concave plates Mbonye, M. K. ; Mendis, R. ; Mittleman, D. M. 2012 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO), 2012, p.1-2 IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		GHz-bandwidth optical intensity modulation in self-poled waveguides in strontium barium niobate (SBN) Marx, J.M. ; Eknoyan, O. ; Taylor, H.F. ; Neurgaonkar, R.R. IEEE photonics technology letters, 1996-08, Vol.8 (8), p.1024-1025 IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Ata de Congresso		Comparison of measured optical image profiles of silicon lines with two different theoretical models Silver, Richard M ; Attota, Ravikiran ; Stocker, M ; Jun, Jau-Shi J ; Marx, Egon ; Larrabee, Robert D ; Russo, Beth ; Davidson, Mark P SPIE proceedings series, 2002, Vol.4689, p.409-429 Bellingham WA: SPIE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Fabrication and superconducting transport properties of bicrystal grain boundary Josephson junctions on different substrates Beck, A. ; Stenzel, A. ; Froehlich, O.M. ; Gerber, R. ; Gerdemann, R. ; Alff, L. ; Mayer, B. ; Gross, R. ; Marx, A. ; Villegier, J.C. ; Moriceau, H. IEEE transactions on applied superconductivity, 1995-06, Vol.5 (2), p.2192-2195 [Periódico revisado por pares] IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Nd1.85Ce0.15CuO4-y bicrystal grain boundary Josephson junctions SCHOOP, U ; KLEEFISCH, S ; MEYER, S ; MARX, A ; ALFF, L ; GROSS, R ; NAITO, M ; SATO, H IEEE transactions on applied superconductivity, 1999-06, Vol.9 (2), p.3409-3412 [Periódico revisado por pares] New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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