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1
Aplicação do método Simplex na determinação do desvio de planicidade
Aplicação do método Simplex na determinação do desvio de planicidade
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Aplicação do método Simplex na determinação do desvio de planicidade

Juliana Keiko Sagawa Benedito Di Giacomo; Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo (12. 2004 São Paulo)

Resumos São Paulo : USP, 2004

São Paulo USP 2004

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2
A metrologia do dia a dia
A metrologia do dia a dia
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A metrologia do dia a dia

Giorgio Moscati Simpósio Internacional da VDI sobre Metrologia Industrial para a Garantia da Qualidade de Produtos e Processos (1. 2002 São Paulo)

Anais São Paulo, 2002

São Paulo VDI-Associação Técnica Brasil-Alemanha 2002

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3
Rastreabilidade na calibração do martelo de impacto aplicado na área médico hospitalar
Rastreabilidade na calibração do martelo de impacto aplicado na área médico hospitalar
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Rastreabilidade na calibração do martelo de impacto aplicado na área médico hospitalar

Pidone. Leandro Augusto Edison Domingues de Oliveira; Paulo Roberto Costa; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA (3. 2003 Recife)

Anais. Metrologia 2003 Recife : SBM, 2003

Recife SBM 2003

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4
Metrologia de tempo e de freqüência o relógio atômico brasileiro, sua construção e avaliação
Metrologia de tempo e de freqüência o relógio atômico brasileiro, sua construção e avaliação
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Metrologia de tempo e de freqüência o relógio atômico brasileiro, sua construção e avaliação

Vanderlei Salvador Bagnato Monica Santos Dahmouche; Daniel Varela Magalhães; Aida Bebeachibuli; Stella Torres Muller; Congresso Brasileiro de Aplicações de Vácuo na Indústria e na Ciência - CbrAVIC (24. 2003 Bauru)

Programa oficial e resumo de trabalhos Bauru : Universidade Estadual Paulista, Faculdade de Ciências, 2003

Bauru Universidade Estadual Paulista, Faculdade de Ciências 2003

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD009088 ) e outros locais(Acessar)

5
Técnicas de separação de erros para aplicação em metrologia dimensional
Técnicas de separação de erros para aplicação em metrologia dimensional
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Técnicas de separação de erros para aplicação em metrologia dimensional

Benedito Di Giacomo Fabricio Tadeu Paziani; Rita de Cássia Alves de Magalhães; Congresso Nacional de Engenharia Mecânica (3. 2004 Belém)

Belém, 2004

Belém 2004

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6
Estudo dos erros de ortogonalidade na máquina de medir
Estudo dos erros de ortogonalidade na máquina de medir
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo dos erros de ortogonalidade na máquina de medir

Eraldo dos Santos Junior Benedito Di Giacomo; Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo (10. 2002 São Carlos)

Resumos

São Paulo USP 2002

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7
Stability and reproducibility of a 'ANTPOT.133 Cs'-beam frequency standard
Stability and reproducibility of a 'ANTPOT.133 Cs'-beam frequency standard
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Stability and reproducibility of a 'ANTPOT.133 Cs'-beam frequency standard

M. S. Santos Aida Bebeachibuli; D. V Magalhães; F Teles; Vanderlei Salvador Bagnato; International Conference on Advances in Metrology: Equivalence of Standards and Global Recognition - AdMet 2003 (4. 2003 New Delhi)

MAPAN - Journal of Metrology Society of India New Delhi v. 18, suppl., p. 139-145, Jan/Mar. 2003

New Delhi Metrology Society of India 2003

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD008637 ) e outros locais(Acessar)

8
Análise estatística de incertezas nas medições experimentais
Análise estatística de incertezas nas medições experimentais
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Análise estatística de incertezas nas medições experimentais

B. Müller J. F Triques; Benedito Di Giacomo; Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo (8. 2000 São Carlos)

Resumos São Paulo : USP, 2000

São Paulo USP 2000

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9
Industrial metrology
Material Type:
Revista 		Adicionar ao Meu Espaço

Industrial metrology

Amsterdam Elsevier

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

10
Measurement
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Revista 		Adicionar ao Meu Espaço

Measurement

ENGLAND Elsevier

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Deste Autor:

  1. Bagnato, V
  2. Magalhães, D
  3. Di Giacomo, B
  4. Lanças, F
  5. Utecher, C

Neste Assunto:

  1. Metrologia
  2. Laboratórios
  3. Metrologia Química
  4. Metrology
  5. Relógio Atômico

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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