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1
How to Identify a Bathtub Hazard Rate
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How to Identify a Bathtub Hazard Rate

Aarset, Magne Vollan

IEEE transactions on reliability, 1987-04, Vol.R-36 (1), p.106-108 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Reliability analysis techniques for complex multiple fault tolerant computer architectures
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Reliability analysis techniques for complex multiple fault tolerant computer architectures

Somani, A.K. ; Sarnaik, T.R.

IEEE transactions on reliability, 1990-12, Vol.39 (5), p.547-556 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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3
Sequential imperfect preventive maintenance policies
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Sequential imperfect preventive maintenance policies

Nakagawa, T.

IEEE transactions on reliability, 1988-08, Vol.37 (3), p.295-298 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
Optimum simple step-stress accelerated life tests with censoring
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Optimum simple step-stress accelerated life tests with censoring

Bai, D.S. ; Kim, M.S. ; Lee, S.H.

IEEE transactions on reliability, 1989-12, Vol.38 (5), p.528-532 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
A census of Tandem system availability between 1985 and 1990
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A census of Tandem system availability between 1985 and 1990

Gray, J.

IEEE transactions on reliability, 1990-10, Vol.39 (4), p.409-418 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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6
Error log analysis: statistical modeling and heuristic trend analysis
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Error log analysis: statistical modeling and heuristic trend analysis

Lin, T.-T.Y. ; Siewiorek, D.P.

IEEE transactions on reliability, 1990-10, Vol.39 (4), p.419-432 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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7
Reliability of scrubbing recovery-techniques for memory systems
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Reliability of scrubbing recovery-techniques for memory systems

Saleh, A.M. ; Serrano, J.J. ; Patel, J.H.

IEEE transactions on reliability, 1990-04, Vol.39 (1), p.114-122 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Fault tree analysis, methods, and applications. A review
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Fault tree analysis, methods, and applications. A review

LEE, W. S ; GROSH, D. L ; TILLMAN, F. A ; LIE, C. H

IEEE transactions on reliability, 1985-01, Vol.34 (3), p.194-203 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers

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9
A consecutive-k-out-of-n:G system: the mirror image of a consecutive-k-out-of-n:F system
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A consecutive-k-out-of-n:G system: the mirror image of a consecutive-k-out-of-n:F system

Kuo, W. ; Zhang, W. ; Zuo, M.

IEEE transactions on reliability, 1990-06, Vol.39 (2), p.244-253 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
Computational Complexity of Network Reliability Analysis: An Overview
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Computational Complexity of Network Reliability Analysis: An Overview

Ball, Michael O.

IEEE transactions on reliability, 1986, Vol.35 (3), p.230-239 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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