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Determination of thin metal film thickness by x-ray diffractometry using the Scherrer equation, atomic absorption analysis and transmission/reflection visible spectroscopy
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Determination of thin metal film thickness by x-ray diffractometry using the Scherrer equation, atomic absorption analysis and transmission/reflection visible spectroscopy

DAGOSTINO, AT

Analytica chimica acta, 1992-06, Vol.262 (2), p.269-275 [Periódico revisado por pares]

AMSTERDAM: Elsevier B.V

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