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A practical method for optical dispersion model selection and parameters variations in scatterometry analysis with variable n&k's
A practical method for optical dispersion model selection and parameters variations in scatterometry analysis with variable n&k's
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A practical method for optical dispersion model selection and parameters variations in scatterometry analysis with variable n&k's

Likhachev, D.V.

Thin solid films, 2014-07, Vol.562, p.90-98 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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2
Characterization of complex inter-layer dielectric stack by spectroscopic ellipsometry: A simple method to reduce parameters correlations
Characterization of complex inter-layer dielectric stack by spectroscopic ellipsometry: A simple method to reduce parameters correlations
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Characterization of complex inter-layer dielectric stack by spectroscopic ellipsometry: A simple method to reduce parameters correlations

Likhachev, D.V.

Thin solid films, 2014-01, Vol.550, p.305-311 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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3
Modified Tauc–Lorentz dispersion model leading to a more accurate representation of absorption features below the bandgap
Modified Tauc–Lorentz dispersion model leading to a more accurate representation of absorption features below the bandgap
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Modified Tauc–Lorentz dispersion model leading to a more accurate representation of absorption features below the bandgap

Likhachev, D.V. ; Malkova, N. ; Poslavsky, L.

Thin solid films, 2015-08, Vol.589, p.844-851 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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4
A practitioner's approach to evaluation strategy for ellipsometric measurements of multilayered and multiparametric thin-film structures
A practitioner's approach to evaluation strategy for ellipsometric measurements of multilayered and multiparametric thin-film structures
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A practitioner's approach to evaluation strategy for ellipsometric measurements of multilayered and multiparametric thin-film structures

Likhachev, D.V.

Thin solid films, 2015-11, Vol.595, p.113-117 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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5
Efficient thin-film stack characterization using parametric sensitivity analysis for spectroscopic ellipsometry in semiconductor device fabrication
Efficient thin-film stack characterization using parametric sensitivity analysis for spectroscopic ellipsometry in semiconductor device fabrication
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Efficient thin-film stack characterization using parametric sensitivity analysis for spectroscopic ellipsometry in semiconductor device fabrication

Likhachev, D.V.

Thin solid films, 2015-08, Vol.589, p.258-263 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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6
Polarons on nonlinear lattice in the Su-Schrieffer-Heeger approximation: Exact solution and multipeaked polarons
Polarons on nonlinear lattice in the Su-Schrieffer-Heeger approximation: Exact solution and multipeaked polarons
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Polarons on nonlinear lattice in the Su-Schrieffer-Heeger approximation: Exact solution and multipeaked polarons

Astakhova, T Yu ; Kashin, V A ; Likhachev, V N ; Vinogradov, G A

Journal of physics. Conference series, 2015-01, Vol.574 (1), p.12166-5 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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7
Long-range charge transfer in biopolymers
Long-range charge transfer in biopolymers
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Long-range charge transfer in biopolymers

Astakhova, T Yu ; Likhachev, V N ; Vinogradov, G A

Russian chemical reviews, 2012-01, Vol.81 (11), p.994-1010 [Periódico revisado por pares]

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8
On the impact bending test technique for high-strength pipe steels
On the impact bending test technique for high-strength pipe steels
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

On the impact bending test technique for high-strength pipe steels

Arsenkin, A. M. ; Odesskii, P. D. ; Shabalov, I. P. ; Likhachev, M. V.

Russian metallurgy Metally, 2015-10, Vol.2015 (10), p.851-860 [Periódico revisado por pares]

Moscow: Pleiades Publishing

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9
Standard assessments of the metal strength for K65 gas-line pipe
Standard assessments of the metal strength for K65 gas-line pipe
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Standard assessments of the metal strength for K65 gas-line pipe

Shabalov, I. P. ; Likhachev, M. V. ; Odesskii, P. D.

Steel in translation, 2013-12, Vol.43 (12), p.829-839 [Periódico revisado por pares]

Heidelberg: Allerton Press

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10
Requirements on the microstructure and crack resistance of steel in large-diameter gas pipelines
Requirements on the microstructure and crack resistance of steel in large-diameter gas pipelines
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Requirements on the microstructure and crack resistance of steel in large-diameter gas pipelines

Shabalov, I. P. ; Likhachev, M. V. ; Odesski, P. D.

Steel in translation, 2012-03, Vol.42 (3), p.269-271 [Periódico revisado por pares]

Heidelberg: Allerton Press, Inc

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