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Pattern transfer on a vertical cavity sidewall using SU8
Pattern transfer on a vertical cavity sidewall using SU8
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Pattern transfer on a vertical cavity sidewall using SU8

Verhaar, T M ; Wei, J ; Sarro, P M

Journal of micromechanics and microengineering, 2009-07, Vol.19 (7), p.074018-074018 (6) [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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2
Correlation-sensitive adaptive sequence detection
Correlation-sensitive adaptive sequence detection
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Correlation-sensitive adaptive sequence detection

Kavcic, A. ; Moura, J.M.F.

IEEE transactions on magnetics, 1998-05, Vol.34 (3), p.763-771

New York, NY: IEEE

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3
A review: On the development of low melting temperature Pb-free solders
A review: On the development of low melting temperature Pb-free solders
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A review: On the development of low melting temperature Pb-free solders

Kotadia, Hiren R. ; Howes, Philip D. ; Mannan, Samjid H.

Microelectronics and reliability, 2014-06, Vol.54 (6-7), p.1253-1273 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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4
Immunity to Device Variations in a Spiking Neural Network With Memristive Nanodevices
Immunity to Device Variations in a Spiking Neural Network With Memristive Nanodevices
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Immunity to Device Variations in a Spiking Neural Network With Memristive Nanodevices

Querlioz, Damien ; Bichler, Olivier ; Dollfus, Philippe ; Gamrat, Christian

IEEE transactions on nanotechnology, 2013-05, Vol.12 (3), p.288-295 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
Stochastic charge trapping in oxides: From random telegraph noise to bias temperature instabilities
Stochastic charge trapping in oxides: From random telegraph noise to bias temperature instabilities
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Stochastic charge trapping in oxides: From random telegraph noise to bias temperature instabilities

Grasser, Tibor

Microelectronics and reliability, 2012, Vol.52 (1), p.39-70 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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6
A review of MEMS oscillators for frequency reference and timing applications
A review of MEMS oscillators for frequency reference and timing applications
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A review of MEMS oscillators for frequency reference and timing applications

van Beek, J T M ; Puers, R

Journal of micromechanics and microengineering, 2012-01, Vol.22 (1), p.013001-35 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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7
Hyperelastic pressure sensing with a liquid-embedded elastomer
Hyperelastic pressure sensing with a liquid-embedded elastomer
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Hyperelastic pressure sensing with a liquid-embedded elastomer

Park, Yong-Lae ; Majidi, Carmel ; Kramer, Rebecca ; Bérard, Phillipe ; Wood, Robert J

Journal of micromechanics and microengineering, 2010-12, Vol.20 (12), p.125029 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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8
Tunnel FET technology: A reliability perspective
Tunnel FET technology: A reliability perspective
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Tunnel FET technology: A reliability perspective

Datta, Suman ; Liu, Huichu ; Narayanan, Vijaykrishnan

Microelectronics and reliability, 2014-05, Vol.54 (5), p.861-874 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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9
Revisiting MOSFET threshold voltage extraction methods
Revisiting MOSFET threshold voltage extraction methods
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Revisiting MOSFET threshold voltage extraction methods

Ortiz-Conde, Adelmo ; García-Sánchez, Francisco J. ; Muci, Juan ; Terán Barrios, Alberto ; Liou, Juin J. ; Ho, Ching-Sung

Microelectronics and reliability, 2013-01, Vol.53 (1), p.90-104 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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10
CNTFET-Based Design of Ternary Logic Gates and Arithmetic Circuits
CNTFET-Based Design of Ternary Logic Gates and Arithmetic Circuits
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CNTFET-Based Design of Ternary Logic Gates and Arithmetic Circuits

Sheng Lin ; Yong-Bin Kim ; Lombardi, Fabrizio

IEEE transactions on nanotechnology, 2011-03, Vol.10 (2), p.217-225 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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