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Segmentation-Based MAP Despeckling of SAR Images in the Undecimated Wavelet Domain
Segmentation-Based MAP Despeckling of SAR Images in the Undecimated Wavelet Domain
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Segmentation-Based MAP Despeckling of SAR Images in the Undecimated Wavelet Domain

Bianchi, T. ; Argenti, F. ; Alparone, L.

IEEE transactions on geoscience and remote sensing, 2008-09, Vol.46 (9), p.2728-2742 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Pattern transfer on a vertical cavity sidewall using SU8
Pattern transfer on a vertical cavity sidewall using SU8
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Pattern transfer on a vertical cavity sidewall using SU8

Verhaar, T M ; Wei, J ; Sarro, P M

Journal of micromechanics and microengineering, 2009-07, Vol.19 (7), p.074018-074018 (6) [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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3
Multichannel add/drop filter based on in-plane hetero photonic Crystals
Multichannel add/drop filter based on in-plane hetero photonic Crystals
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Multichannel add/drop filter based on in-plane hetero photonic Crystals

Bong-Shik Song ; Asano, T. ; Akahane, Y. ; Tanaka, Y. ; Noda, S.

Journal of lightwave technology, 2005-03, Vol.23 (3), p.1449-1455 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
OTDM add-drop multiplexer based on XPM-induced wavelength shifting in highly nonlinear fiber
OTDM add-drop multiplexer based on XPM-induced wavelength shifting in highly nonlinear fiber
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OTDM add-drop multiplexer based on XPM-induced wavelength shifting in highly nonlinear fiber

Jie Li ; Olsson, B.-E. ; Karlsson, M. ; Andrekson, P.A.

Journal of lightwave technology, 2005-09, Vol.23 (9), p.2654-2661 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
HF radar observations of Arctic pack-ice breakup
HF radar observations of Arctic pack-ice breakup
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HF radar observations of Arctic pack-ice breakup

Lipa, B. ; Crissman, R. ; Barrick, D.

IEEE journal of oceanic engineering, 1986-04, Vol.11 (2), p.270-275 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
MEMS Laser Scanners: A Review
MEMS Laser Scanners: A Review
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MEMS Laser Scanners: A Review

Holmstrom, Sven T. S. ; Baran, Utku ; Urey, Hakan

Journal of microelectromechanical systems, 2014-04, Vol.23 (2), p.259-275 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
Spectral-Spatial Hyperspectral Image Classification With Edge-Preserving Filtering
Spectral-Spatial Hyperspectral Image Classification With Edge-Preserving Filtering
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Spectral-Spatial Hyperspectral Image Classification With Edge-Preserving Filtering

Kang, Xudong ; Li, Shutao ; Benediktsson, Jon Atli

IEEE transactions on geoscience and remote sensing, 2014-05, Vol.52 (5), p.2666-2677 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Hyperspectral Image Restoration Using Low-Rank Matrix Recovery
Hyperspectral Image Restoration Using Low-Rank Matrix Recovery
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Hyperspectral Image Restoration Using Low-Rank Matrix Recovery

Zhang, Hongyan ; He, Wei ; Zhang, Liangpei ; Shen, Huanfeng ; Yuan, Qiangqiang

IEEE transactions on geoscience and remote sensing, 2014-08, Vol.52 (8), p.4729-4743 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
A Local Contrast Method for Small Infrared Target Detection
A Local Contrast Method for Small Infrared Target Detection
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A Local Contrast Method for Small Infrared Target Detection

Chen, C. L. Philip ; Hong Li ; Yantao Wei ; Tian Xia ; Yuan Yan Tang

IEEE transactions on geoscience and remote sensing, 2014-01, Vol.52 (1), p.574-581 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
Early On-Orbit Performance of the Visible Infrared Imaging Radiometer Suite Onboard the Suomi National Polar-Orbiting Partnership (S-NPP) Satellite
Early On-Orbit Performance of the Visible Infrared Imaging Radiometer Suite Onboard the Suomi National Polar-Orbiting Partnership (S-NPP) Satellite
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Early On-Orbit Performance of the Visible Infrared Imaging Radiometer Suite Onboard the Suomi National Polar-Orbiting Partnership (S-NPP) Satellite

Changyong Cao ; De Luccia, Frank J. ; Xiaoxiong Xiong ; Wolfe, Robert ; Fuzhong Weng

IEEE transactions on geoscience and remote sensing, 2014-02, Vol.52 (2), p.1142-1156 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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