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1
Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy
Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy
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Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy

Carlos J González Nemitala Added; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Fernanda G L Kastensmidt; Helmut K Puchner; Marcilei A Guazzelli; Nilberto Heder Medina; Tiago R Balen

IEEE Transactions on Nuclear Science Piscataway, NJ v.. 67, n. 3, p. 518-524, 2020

Piscataway, NJ 2020

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2
Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET
Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET

S. G. Alberton Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Nilberto H Medina; Nemitala Added; E L A Macchione; R Menegasso; G. J Cesário; Hellen Cristine Santos; V B Scarduelli; J. A Alcántara-Núñez; M. A Guazzelli; R. B. B Santos; D Flechas

Microelectronics Reliability Amsterdam: Elsevier, 2022 v. 137, 21 de setembro de 2022, número do artigo: 114784, online

Amsterdam 2022

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3
Brazilian facilities to study radiation effects in electronic devices
Brazilian facilities to study radiation effects in electronic devices
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Brazilian facilities to study radiation effects in electronic devices

Nilberto H. Medina Marcilei Aparecida Guazzelli; Nemitala Added; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; F Aguirre; R Giacomini; Eduardo Luiz Augusto Macchione; M. A. A Melo; J. A Oliveira; R. B. B Santos; L. E Seixas; Manfredo Tabacniks; European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) 23 a 27 de setembro de 2013 Oxford, Inglaterra

IEEE Xplore New York: IEEE, 2013 07p., Proc. RADECS 2013, Proceedings Paper

New York 2013

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4
Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices
Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices
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Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices

Saulo Gabriel Pereira Nascimento Alberton Nilberto Heder Medina; Nemitala Added; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Ricardo Menegasso; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Rafael Escudeiro; Marcilei Aparecida Guazzelli; D Flechas; Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil (42. 2019 Campos de Jordão, SP); Encontro Nacional de Física de Partículas e Campos (40. 2019 Campos de Jordão, SP)

Abstracts São Paulo : SBF, 2019

São Paulo Sociedade Brasileira de Física 2019

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Isomeric state in the odd-odd 68Ga nucleus
Isomeric state in the odd-odd 68Ga nucleus
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Isomeric state in the odd-odd 68Ga nucleus

Rafael Escudeiro Nilberto Heder Medina; Marcilei Aparecida Guazzelli; Caio Eduardo Cabral de Vasconcellos; José Roberto Brandão de Oliveira; Paula Rangel Pestana Allegro; Juan Antonio Alcantara Núñez; Roberto Vicençotto Ribas; Nemitala Added; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Valdir Brunetti Scarduelli; Saulo Gabriel Pereira Nascimento Alberton; Dennis Lozano Toufen; Brazilian Workshop on Nuclear Physics 2021 Brasil) (44th

Journal of Physics: Conference Series Bristol

Bristol IOP Publishing 2022

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6
SAFIIRA A heavy-ion multi-purpose irradiation facility in Brazil
SAFIIRA A heavy-ion multi-purpose irradiation facility in Brazil
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SAFIIRA A heavy-ion multi-purpose irradiation facility in Brazil

Vitor Ângelo Paulino de Aguiar Nilberto Heder Medina; Nemitala Added; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Saulo Gabriel Pereira Nascimento Alberton; A. R Leite; F. R Aguirre; R. V Ribas; C. C Perego; L. M Fagundes; J. C Terassi; J. A. P Brage; R. F Simões; O. B Morais; E. A Almeida; P. M Joaquim; M. S Souza; A. F. M Cecotte; R Martins; J. G Duarte; V. B Scarduelli; P. R. P Allegro; Rafael Escudeiro; E Leistenschneider; R. A. N Oliveira; W. A Servelo; M. T Silva; V. E Sarmento; C. A Carreira; J. C Abreu; S. C Silva; H. C Santos; C. L Rodrigues; R. F Assis; T. F Silva; Manfredo Harri Tabacniks; A. S Joaquim; J. H. P Minas; D Kashinskiy; M. A Guazzelli; L. E Seixas Jr.; S Finco; F Benevenutti

New York: AIP Publishing, 2020 v. 91, n. 5, maio, 2020número do artigo: 053301 AIP Review of Scientific Instruments

New York 2020

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7
Study of radiation effects in embedded systems
Study of radiation effects in embedded systems
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Study of radiation effects in embedded systems

Nilberto Heder Medina Nemitala Added; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Saulo Gabriel Pereira Nascimento Alberton; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira; Brazilian Meeting on Nuclear Physics (41th 2018 Maresias, São Sebastião, SP)

Abstracts São Paulo: SBF, 2018

São Paulo SBF 2018

Acesso online

8
A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems
A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems

Guilherme Soares Zahn Frederico Antonio Genezini; Mauricio Moralles; Paulo de Tarso Dalledone Siqueira; Nilberto Heder Medina; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Nemitala Added; Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira; Brazilian Meeting on Nuclear Physics (41th 2018 Maresias, São Sebastião, SP)

Abstracts São Paulo: SBF, 2018

São Paulo SBF 2018

Acesso online

9
Destructive single-event effects in semiconductor devices
Destructive single-event effects in semiconductor devices
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Destructive single-event effects in semiconductor devices

Saulo Gabriel Pereira Nascimento Alberton Nilberto Heder Medina; Nemitala Added; Ricardo Menegasso; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Roberto Vicençotto Ribas; Escola de Verão Jorge André Swieca Física Nuclear Teórica (19th 2019 Campos de Jordão, SP)

Abstracts São Paulo: SBF, 2019

São Paulo SBF 2019

Acesso online

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Passivation layer and charge collection depth in electronic devices
Passivation layer and charge collection depth in electronic devices
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Passivation layer and charge collection depth in electronic devices

Vitor Ângelo Paulino de Aguiar Nilberto Heder Medina; Nemitala Added; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Alisson Rodolfo Leite; Tiago Fiorini da Silva; Cleber Lima Rodrigues; Rafael Escudeiro; Paula Rangel Pestana Allegro; Hellen Cristine dos Santos; Saulo Gabriel Pereira Nascimento Alberton; Valdir Brunetti Scarduelli; Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira; M A A de Melo; R B B Santos; Renato Giacomini; J A Oliveira; F G H Leite; Brazilian Meeting on Nuclear Physics (41th 2018 Maresias, São Sebastião, SP)

Abstracts São Paulo: SBF, 2018

São Paulo SBF 2018

Acesso online

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Deste Autor:

  1. Macchione, E
  2. Added, N
  3. Medina, N
  4. Aguiar, V
  5. Silveira, M

Neste Assunto:

  1. Física Nuclear
  2. Íons Pesados
  3. Acelerador De Partículas
  4. Radiação Ionizante
  5. Dispositivos Eletrônicos

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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