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1
Electrical properties and conduction mechanisms of Ru-based thick-film (cermet) resistors
Electrical properties and conduction mechanisms of Ru-based thick-film (cermet) resistors
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Electrical properties and conduction mechanisms of Ru-based thick-film (cermet) resistors

Pike, G. E. ; Seager, C. H.

Journal of applied physics, 1977-12, Vol.48 (12), p.5152-5169 [Periódico revisado por pares]

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2
Numerical analysis of transient photoconductivity in insulators
Numerical analysis of transient photoconductivity in insulators
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Numerical analysis of transient photoconductivity in insulators

Sokel, R. ; Hughes, R. C.

Journal of applied physics, 1982-11, Vol.53 (11), p.7414-7424 [Periódico revisado por pares]

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3
Zero-bias resistance of grain boundaries in neutron-transmutation-doped polycrystalline silicon
Zero-bias resistance of grain boundaries in neutron-transmutation-doped polycrystalline silicon
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Zero-bias resistance of grain boundaries in neutron-transmutation-doped polycrystalline silicon

Seager, C. H. ; Castner, T. G.

Journal of applied physics, 1978-07, Vol.49 (7), p.3879-3889 [Periódico revisado por pares]

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4
Rapid thermal annealing and regrowth of thermal donors in silicon
Rapid thermal annealing and regrowth of thermal donors in silicon
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Rapid thermal annealing and regrowth of thermal donors in silicon

STEIN, H. J ; HAHN, S. K ; SHATAS, S. C

Journal of applied physics, 1986-05, Vol.59 (10), p.3495-3502 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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5
Photoluminescence in high-resistivity CdTe : In
Photoluminescence in high-resistivity CdTe : In
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Photoluminescence in high-resistivity CdTe : In

Barnes, C. E. ; Zanio, K.

Journal of applied physics, 1975-09, Vol.46 (9), p.3959-3964 [Periódico revisado por pares]

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6
Theory of response of radiation sensing field effect transistors
Theory of response of radiation sensing field effect transistors
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Theory of response of radiation sensing field effect transistors

HUGHES, R. C

Journal of applied physics, 1985-08, Vol.58 (3), p.1375-1379 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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7
Hole trapping in oxides grown by rapid thermal processing
Hole trapping in oxides grown by rapid thermal processing
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Hole trapping in oxides grown by rapid thermal processing

SEAGER, C. H ; SCHUBERT, W. K

Journal of applied physics, 1988-04, Vol.63 (8), p.2869-2871 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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8
Radiation-induced photoconductivity in polymers: Poly(vinylidene fluoride) compared with polyethylene terephthalate
Radiation-induced photoconductivity in polymers: Poly(vinylidene fluoride) compared with polyethylene terephthalate
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Radiation-induced photoconductivity in polymers: Poly(vinylidene fluoride) compared with polyethylene terephthalate

Kurtz, S. R. ; Hughes, R. C.

Journal of applied physics, 1983-01, Vol.54 (1), p.229-237 [Periódico revisado por pares]

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9
Photocarrier transport and trapping processes in doped polyethylene terephthalate films
Photocarrier transport and trapping processes in doped polyethylene terephthalate films
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Photocarrier transport and trapping processes in doped polyethylene terephthalate films

KURTZ, S. R ; ARNOLD, C. JR

Journal of applied physics, 1985-04, Vol.57 (7), p.2532-2537 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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10
The origin of interfacial charging in irradiated silicon nitride capacitors
The origin of interfacial charging in irradiated silicon nitride capacitors
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The origin of interfacial charging in irradiated silicon nitride capacitors

HUGHES, R. C

Journal of applied physics, 1984-08, Vol.56 (4), p.1044-1050 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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