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Material Type: Artigo
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ALICE luminosity determination for Pb–Pb collisions at √ ����NN = 5.02 TeVS Acharya L Barreto; M Bregant; F D M Canedo; H F Degenhardt; P F T Matuoka; M G Munhoz; T B Saramela; T. F Silva; A A P SuaideJournal of Instrumentation Bristol V. 19, p. 1-29, February 2024Bristol IOP Science 2024Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
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Material Type: Artigo
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Efficiency and time resolution of monolithic silicon pixel detectors in SiGe BiCMOS technologyIacobucci, G. ; Paolozzi, L. ; Valerio, P. ; Moretti, T. ; Cadoux, F. ; Cardarelli, R. ; Cardella, R. ; Débieux, S. ; Favre, Y. ; Ferrere, D. ; Gonzalez-Sevilla, S. ; Gurimskaya, Y. ; Kotitsa, R. ; Magliocca, C. ; Martinelli, F. ; Milanesio, M. ; Münker, M. ; Nessi, M. ; Picardi, A. ; Saidi, J. ; Rücker, H. ; Vicente Barreto Pinto, M. ; Zambito, S.Journal of instrumentation, 2022-02, Vol.17 (2), p.P02019 [Periódico revisado por pares]Bristol: IOP PublishingTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Development of novel single-die hybridisation processes for small-pitch pixel detectorsSvihra, P. ; Braach, J. ; Buschmann, E. ; Dannheim, D. ; Dort, K. ; Fritzsch, T. ; Kristiansen, H. ; Rothermund, M. ; Schmidt, J.V. ; Vicente Barreto Pinto, M. ; Williams, M.Journal of instrumentation, 2023-03, Vol.18 (3), p.C03008 [Periódico revisado por pares]Bristol: IOP PublishingTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Radiation tolerance of SiGe BiCMOS monolithic silicon pixel detectors without internal gain layerMilanesio, M. ; Paolozzi, L. ; Moretti, T. ; Cardella, R. ; Kugathasan, T. ; Martinelli, F. ; Picardi, A. ; Semendyaev, I. ; Zambito, S. ; Nakamura, K. ; Takubo, Y. ; Togawa, M. ; Elviretti, M. ; Rücker, H. ; Cadoux, F. ; Cardarelli, R. ; Débieux, S. ; Favre, Y. ; Fenoglio, C.A. ; Ferrere, D. ; Gonzalez-Sevilla, S. ; Iodice, L. ; Kotitsa, R. ; Magliocca, C. ; Nessi, M. ; Pizarro-Medina, A. ; Sabater Iglesias, J. ; Saidi, J. ; Vicente Barreto Pinto, M. ; Iacobucci, G.Journal of instrumentation, 2024-01, Vol.19 (1), p.P01014 [Periódico revisado por pares]Bristol: IOP PublishingTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Testbeam results of the Picosecond Avalanche Detector proof-of-concept prototypeIacobucci, G. ; Zambito, S. ; Milanesio, M. ; Moretti, T. ; Saidi, J. ; Paolozzi, L. ; Munker, M. ; Cardella, R. ; Martinelli, F. ; Picardi, A. ; Rücker, H. ; Trusch, A. ; Valerio, P. ; Cadoux, F. ; Cardarelli, R. ; Débieux, S. ; Favre, Y. ; Fenoglio, C.A. ; Ferrere, D. ; Gonzalez-Sevilla, S. ; Gurimskaya, Y. ; Kotitsa, R. ; Magliocca, C. ; Nessi, M. ; Pizarro-Medina, A. ; Sabater Iglesias, J. ; Vicente Barreto Pinto, M.Journal of instrumentation, 2022-10, Vol.17 (10), p.P10040 [Periódico revisado por pares]Bristol: IOP PublishingTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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20 ps time resolution with a fully-efficient monolithic silicon pixel detector without internal gain layerZambito, S. ; Milanesio, M. ; Moretti, T. ; Paolozzi, L. ; Munker, M. ; Cardella, R. ; Kugathasan, T. ; Martinelli, F. ; Picardi, A. ; Elviretti, M. ; Rücker, H. ; Trusch, A. ; Cadoux, F. ; Cardarelli, R. ; Débieux, S. ; Favre, Y. ; Fenoglio, C.A. ; Ferrere, D. ; Gonzalez-Sevilla, S. ; Iodice, L. ; Kotitsa, R. ; Magliocca, C. ; Nessi, M. ; Pizarro-Medina, A. ; Sabater Iglesias, J. ; Saidi, J. ; Vicente Barreto Pinto, M. ; Iacobucci, G.Journal of instrumentation, 2023-03, Vol.18 (3), p.P03047 [Periódico revisado por pares]Bristol: IOP PublishingTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Picosecond Avalanche Detector — working principle and gain measurement with a proof-of-concept prototypePaolozzi, L. ; Munker, M. ; Cardella, R. ; Milanesio, M. ; Gurimskaya, Y. ; Martinelli, F. ; Picardi, A. ; Rücker, H. ; Trusch, A. ; Valerio, P. ; Cadoux, F. ; Cardarelli, R. ; Débieux, S. ; Favre, Y. ; Fenoglio, C.A. ; Ferrere, D. ; Gonzalez-Sevilla, S. ; Kotitsa, R. ; Magliocca, C. ; Moretti, T. ; Nessi, M. ; Pizarro Medina, A. ; Sabater Iglesias, J. ; Saidi, J. ; Vicente Barreto Pinto, M. ; Zambito, S. ; Iacobucci, G.Journal of instrumentation, 2022-10, Vol.17 (10), p.P10032 [Periódico revisado por pares]Bristol: IOP PublishingTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Time resolution of a SiGe BiCMOS monolithic silicon pixel detector without internal gain layer with a femtosecond laserMilanesio, M. ; Paolozzi, L. ; Moretti, T. ; Latshaw, A. ; Bonacina, L. ; Cardella, R. ; Kugathasan, T. ; Picardi, A. ; Elviretti, M. ; Rücker, H. ; Cardarelli, R. ; Cecconi, L. ; Fenoglio, C.A. ; Ferrere, D. ; Gonzalez-Sevilla, S. ; Iodice, L. ; Kotitsa, R. ; Magliocca, C. ; Nessi, M. ; Pizarro-Medina, A. ; Sabater Iglesias, J. ; Semendyaev, I. ; Saidi, J. ; Vicente Barreto Pinto, M. ; Zambito, S. ; Iacobucci, G.Journal of instrumentation, 2024-04, Vol.19 (4), p.P04029 [Periódico revisado por pares]Bristol: IOP PublishingTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Development of novel low-mass module concepts based on MALTA monolithic pixel sensorsWeick, J. ; Dachs, F. ; Riedler, P. ; Vicente Barreto Pinto, M. ; Zoubir, A.M. ; Flores Sanz de Acedo, L. ; Asensi Tortajada, I. ; Dao, V. ; Dobrijevic, D. ; Pernegger, H. ; Van Rijnbach, M. ; Sharma, A. ; Solans Sanchez, C. ; de Oliveira, R. ; Dannheim, D. ; Schmidt, J.V.Journal of instrumentation, 2023-04, Vol.18 (4), p.C04003 [Periódico revisado por pares]Bristol: IOP PublishingTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Development of a modular test system for the silicon sensor R&D of the ATLAS UpgradeLiu, H. ; Benoit, M. ; Chen, H. ; Chen, K. ; Bello, F.A. Di ; Iacobucci, G. ; Lanni, F. ; Peric, I. ; Ristic, B. ; Pinto, M. Vicente Barreto ; Wu, W. ; Xu, L. ; Jin, G.Journal of instrumentation, 2017-01, Vol.12 (1), p.P01008-P01008 [Periódico revisado por pares]United States: Institute of Physics (IOP)Texto completo disponível |