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1 Resultados para Acervo Físico

Refinado por: Nome da Publicação: Applied Optics

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1	$Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy$ $Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy$ Material Type: Artigo		Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy Eduardo Lages Wilder Cardoso; Gustavo Foresto Brito Almeida; Lívia Siman; Oscar Mesquita; Cleber Renato Mendonça; Ubirajara Agero Sebastião Pádua Applied Optics Washington, DC : Optical Society of America - OSA v. 57, n. 29, p. 8699-8704, Oct. 2018 Washington, DC 2018 Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos (PROD027966 )(Acessar) Localização & Reservas Detalhes Resenhas & Tags Solicitações Mais Opções Prateleira Virtual