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Reliability evaluation of fault-tolerant systems. Effect of variability in failure rates
Reliability evaluation of fault-tolerant systems. Effect of variability in failure rates
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Reliability evaluation of fault-tolerant systems. Effect of variability in failure rates

IYER, R. K

IEEE transactions on computers, 1948, Vol.33 (2), p.197-200 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers

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2
Calculation of Mean Shift for a Binary Multiplier Using 2, 3, or 4 Bits at a Time
Calculation of Mean Shift for a Binary Multiplier Using 2, 3, or 4 Bits at a Time
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Calculation of Mean Shift for a Binary Multiplier Using 2, 3, or 4 Bits at a Time

Freeman, Herbert

IEEE transactions on electronic computers, 1967-12, Vol.EC-16 (6), p.864-866

IEEE

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3
Language bindings for computer graphics standards
Language bindings for computer graphics standards
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Language bindings for computer graphics standards

SPARKS, M. R ; GALLOP, J. R

IEEE computer graphics and applications, 1976, Vol.6 (8), p.58-65 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE Computer Society

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4
Matrix Processors Using p-adic Arithmetic for Exact Linear Computations
Matrix Processors Using p-adic Arithmetic for Exact Linear Computations
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Matrix Processors Using p-adic Arithmetic for Exact Linear Computations

Krishnamurthy

IEEE transactions on computers, 1977-07, Vol.C-26 (7), p.633-639 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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5
New Topological Formula and Rapid Algorithm for Reliability Analysis of Complex Networks
New Topological Formula and Rapid Algorithm for Reliability Analysis of Complex Networks
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New Topological Formula and Rapid Algorithm for Reliability Analysis of Complex Networks

Satyanarayana, A. ; Prabhakar, A.

IEEE transactions on reliability, 1978-06, Vol.R-27 (2), p.82-100 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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6
Radio-Frequency Interference Among Linear-FM Radars
Radio-Frequency Interference Among Linear-FM Radars
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Radio-Frequency Interference Among Linear-FM Radars

Gerald Mccue, J. J.

IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 1979-08, Vol.EMC-21 (3), p.228-246 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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7
Recursive Disjoint Products, Inclusion-Exclusion, and Min-Cut Approximations
Recursive Disjoint Products, Inclusion-Exclusion, and Min-Cut Approximations
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Recursive Disjoint Products, Inclusion-Exclusion, and Min-Cut Approximations

Locks, Mitchell O.

IEEE transactions on reliability, 1980-12, Vol.R-29 (5), p.368-371 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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8
A New Algorithm for the Reliability Analysis of Multi-Terminal Networks
A New Algorithm for the Reliability Analysis of Multi-Terminal Networks
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A New Algorithm for the Reliability Analysis of Multi-Terminal Networks

Satyanarayana, A. ; Hagstrom, Jane N.

IEEE Trans. Reliab.; (United States), 1981-10, Vol.R-30 (4), p.325-334 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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9
A Unified Formula for Analysis of Some Network Reliability Problems
A Unified Formula for Analysis of Some Network Reliability Problems
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A Unified Formula for Analysis of Some Network Reliability Problems

Satyanarayana, A.

IEEE transactions on reliability, 1982-01, Vol.R-31 (1), p.23-32 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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10
Spectral quality of He-Zn and He-Cd II hollow cathode metal vapor lasers in the magnetic fields
Spectral quality of He-Zn and He-Cd II hollow cathode metal vapor lasers in the magnetic fields
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Spectral quality of He-Zn and He-Cd II hollow cathode metal vapor lasers in the magnetic fields

SASAKI, W ; UEDA, H ; OHTA, T

IEEE journal of quantum electronics, 1983, Vol.19 (8), p.1259-1269 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers

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