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Dynamic Software Product Lines
Dynamic Software Product Lines
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Dynamic Software Product Lines

Hallsteinsen, S. ; Hinchey, M. ; Sooyong Park ; Schmid, K.

Computer (Long Beach, Calif.), 2008-04, Vol.41 (4), p.93-95 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Software-Engineering Design Patterns for Machine Learning Applications
Software-Engineering Design Patterns for Machine Learning Applications
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Software-Engineering Design Patterns for Machine Learning Applications

Washizaki, Hironori ; Khomh, Foutse ; Gueheneuc, Yann-Gael ; Takeuchi, Hironori ; Natori, Naotake ; Doi, Takuo ; Okuda, Satoshi

Computer (Long Beach, Calif.), 2022-03, Vol.55 (3), p.30-39 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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13
Globalizing Modeling Languages
Globalizing Modeling Languages
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Globalizing Modeling Languages

Combemale, Benoit ; DeAntoni, Julien ; Baudry, Benoit ; France, Robert B. ; Jezequel, Jean-Marc ; Gray, Jeff

Computer (Long Beach, Calif.), 2014-06, Vol.47 (6), p.68-71 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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14
Teaching Edge AI at the Undergraduate Level: A Hardware-Software Co-Design Approach
Teaching Edge AI at the Undergraduate Level: A Hardware-Software Co-Design Approach
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Teaching Edge AI at the Undergraduate Level: A Hardware-Software Co-Design Approach

Farcas, Allen-Jasmin ; Marculescu, Radu

Computer (Long Beach, Calif.), 2023-11, Vol.56 (11), p.30-38 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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15
Active Learning Query Strategies for Classification, Regression, and Clustering: A Survey
Active Learning Query Strategies for Classification, Regression, and Clustering: A Survey
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Active Learning Query Strategies for Classification, Regression, and Clustering: A Survey

Kumar, Punit ; Gupta, Atul

Journal of computer science and technology, 2020-07, Vol.35 (4), p.913-945 [Periódico revisado por pares]

Singapore: Springer Singapore

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16
When Scientific Software Meets Software Engineering
When Scientific Software Meets Software Engineering
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When Scientific Software Meets Software Engineering

Leroy, Dorian ; Sallou, June ; Bourcier, Johann ; Combemale, Benoit

Computer (Long Beach, Calif.), 2021-12, Vol.54 (12), p.60-71 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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17
The problem with threads
The problem with threads
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The problem with threads

Lee, E.A.

Computer (Long Beach, Calif.), 2006-05, Vol.39 (5), p.33-42 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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18
METTLE: A METamorphic Testing Approach to Assessing and Validating Unsupervised Machine Learning Systems
METTLE: A METamorphic Testing Approach to Assessing and Validating Unsupervised Machine Learning Systems
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METTLE: A METamorphic Testing Approach to Assessing and Validating Unsupervised Machine Learning Systems

Xie, Xiaoyuan ; Zhang, Zhiyi ; Chen, Tsong Yueh ; Liu, Yang ; Poon, Pak-Lok ; Xu, Baowen

IEEE transactions on reliability, 2020-12, Vol.69 (4), p.1293-1322 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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19
What Security Questions Do Developers Ask？ A Large-Scale Study of Stack Overflow Posts
What Security Questions Do Developers Ask？ A Large-Scale Study of Stack Overflow Posts
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What Security Questions Do Developers Ask？ A Large-Scale Study of Stack Overflow Posts

Yang, Xin-Li ; Lo, David ; Xia, Xin ; Wan, Zhi-Yuan ; Sun, Jian-Ling

Journal of computer science and technology, 2016-09, Vol.31 (5), p.910-924 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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20
Transformers for GUI Testing: A Plausible Solution to Automated Test Case Generation and Flaky Tests
Transformers for GUI Testing: A Plausible Solution to Automated Test Case Generation and Flaky Tests
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Transformers for GUI Testing: A Plausible Solution to Automated Test Case Generation and Flaky Tests

Khaliq, Zubair ; Farooq, Sheikh Umar ; Khan, Dawood Ashraf

Computer (Long Beach, Calif.), 2022-03, Vol.55 (3), p.64-73 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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