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1
Agile Requirements Engineering: A systematic literature review
Agile Requirements Engineering: A systematic literature review
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Agile Requirements Engineering: A systematic literature review

Schön, Eva-Maria ; Thomaschewski, Jörg ; Escalona, María José

Computer standards and interfaces, 2017-01, Vol.49, p.79-91 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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2
The ARM Scalable Vector Extension
The ARM Scalable Vector Extension
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The ARM Scalable Vector Extension

Stephens, Nigel ; Biles, Stuart ; Boettcher, Matthias ; Eapen, Jacob ; Eyole, Mbou ; Gabrielli, Giacomo ; Horsnell, Matt ; Magklis, Grigorios ; Martinez, Alejandro ; Premillieu, Nathanael ; Reid, Alastair ; Rico, Alejandro ; Walker, Paul

IEEE MICRO, 2017-03, Vol.37 (2), p.26-39 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos: IEEE

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3
Models@ run.time
Models@ run.time
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Models@ run.time

Blair, G. ; Bencomo, N. ; France, R.B.

Computer (Long Beach, Calif.), 2009-10, Vol.42 (10), p.22-27 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Defect Prediction With Semantics and Context Features of Codes Based on Graph Representation Learning
Defect Prediction With Semantics and Context Features of Codes Based on Graph Representation Learning
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Defect Prediction With Semantics and Context Features of Codes Based on Graph Representation Learning

Xu, Jiaxi ; Wang, Fei ; Ai, Jun

IEEE transactions on reliability, 2021-06, Vol.70 (2), p.613-625 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
CNN-Based Automatic Prioritization of Bug Reports
CNN-Based Automatic Prioritization of Bug Reports
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CNN-Based Automatic Prioritization of Bug Reports

Umer, Qasim ; Liu, Hui ; Illahi, Inam

IEEE transactions on reliability, 2020-12, Vol.69 (4), p.1341-1354 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Machine Learning Applied to Software Testing: A Systematic Mapping Study
Machine Learning Applied to Software Testing: A Systematic Mapping Study
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Machine Learning Applied to Software Testing: A Systematic Mapping Study

Durelli, Vinicius H. S. ; Durelli, Rafael S. ; Borges, Simone S. ; Endo, Andre T. ; Eler, Marcelo M. ; Dias, Diego R. C. ; Guimaraes, Marcelo P.

IEEE transactions on reliability, 2019-09, Vol.68 (3), p.1189-1212 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Dynamic Software Product Lines
Dynamic Software Product Lines
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Dynamic Software Product Lines

Hallsteinsen, S. ; Hinchey, M. ; Sooyong Park ; Schmid, K.

Computer (Long Beach, Calif.), 2008-04, Vol.41 (4), p.93-95 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Globalizing Modeling Languages
Globalizing Modeling Languages
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Globalizing Modeling Languages

Combemale, Benoit ; DeAntoni, Julien ; Baudry, Benoit ; France, Robert B. ; Jezequel, Jean-Marc ; Gray, Jeff

Computer (Long Beach, Calif.), 2014-06, Vol.47 (6), p.68-71 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
A Novel Class-Imbalance Learning Approach for Both Within-Project and Cross-Project Defect Prediction
A Novel Class-Imbalance Learning Approach for Both Within-Project and Cross-Project Defect Prediction
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A Novel Class-Imbalance Learning Approach for Both Within-Project and Cross-Project Defect Prediction

Gong, Lina ; Jiang, Shujuan ; Bo, Lili ; Jiang, Li ; Qian, Junyan

IEEE transactions on reliability, 2020-03, Vol.69 (1), p.40-54 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
T-CREST: Time-predictable multi-core architecture for embedded systems
T-CREST: Time-predictable multi-core architecture for embedded systems
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T-CREST: Time-predictable multi-core architecture for embedded systems

Schoeberl, Martin ; Abbaspour, Sahar ; Akesson, Benny ; Audsley, Neil ; Capasso, Raffaele ; Garside, Jamie ; Goossens, Kees ; Goossens, Sven ; Hansen, Scott ; Heckmann, Reinhold ; Hepp, Stefan ; Huber, Benedikt ; Jordan, Alexander ; Kasapaki, Evangelia ; Knoop, Jens ; Li, Yonghui ; Prokesch, Daniel ; Puffitsch, Wolfgang ; Puschner, Peter ; Rocha, André ; Silva, Cláudio ; Sparsø, Jens ; Tocchi, Alessandro

Journal of systems architecture, 2015-10, Vol.61 (9), p.449-471 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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