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1
Dynamic Software Product Lines
Dynamic Software Product Lines
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Dynamic Software Product Lines

Hallsteinsen, S. ; Hinchey, M. ; Sooyong Park ; Schmid, K.

Computer (Long Beach, Calif.), 2008-04, Vol.41 (4), p.93-95 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Globalizing Modeling Languages
Globalizing Modeling Languages
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Globalizing Modeling Languages

Combemale, Benoit ; DeAntoni, Julien ; Baudry, Benoit ; France, Robert B. ; Jezequel, Jean-Marc ; Gray, Jeff

Computer (Long Beach, Calif.), 2014-06, Vol.47 (6), p.68-71 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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3
The problem with threads
The problem with threads
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The problem with threads

Lee, E.A.

Computer (Long Beach, Calif.), 2006-05, Vol.39 (5), p.33-42 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
Adding Nesting Structure to Words
Adding Nesting Structure to Words
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Adding Nesting Structure to Words

ALUR, Rajeev ; MADHUSUDAN, P

Journal of the ACM, 2009-05, Vol.56 (3), p.1-43 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Association for Computing Machinery

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5
Embedded Software: Facts, Figures, and Future
Embedded Software: Facts, Figures, and Future
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Embedded Software: Facts, Figures, and Future

Ebert, C. ; Jones, C.

Computer (Long Beach, Calif.), 2009-04, Vol.42 (4), p.42-52 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
Virtual machine monitors: current technology and future trends
Virtual machine monitors: current technology and future trends
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Virtual machine monitors: current technology and future trends

Rosenblum, M. ; Garfinkel, T.

Computer (Long Beach, Calif.), 2005-05, Vol.38 (5), p.39-47 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
Compositional Shape Analysis by Means of Bi-Abduction
Compositional Shape Analysis by Means of Bi-Abduction
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Compositional Shape Analysis by Means of Bi-Abduction

CALCAGNO, Cristiano ; DISTEFANO, Dino ; O'HEARN, Peter W ; YANG, Hongseok

Journal of the ACM, 2011-12, Vol.58 (6), p.1-66 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Association for Computing Machinery

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8
Building Dynamic Software Product Lines
Building Dynamic Software Product Lines
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Building Dynamic Software Product Lines

Hinchey, M. ; Sooyong Park ; Schmid, K.

Computer (Long Beach, Calif.), 2012-10, Vol.45 (10), p.22-26 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
Intel virtualization technology
Intel virtualization technology
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Intel virtualization technology

Uhlig, R. ; Neiger, G. ; Rodgers, D. ; Santoni, A.L. ; Martins, F.C.M. ; Anderson, A.V. ; Bennett, S.M. ; Kagi, A. ; Leung, F.H. ; Smith, L.

Computer (Long Beach, Calif.), 2005-05, Vol.38 (5), p.48-56 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
Visualization of test information to assist fault localization
Visualization of test information to assist fault localization
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Visualization of test information to assist fault localization

Jones, James A. ; Harrold, Mary Jean ; Stasko, John

Proceedings - International Conference on Software Engineering, 2002, p.467-477

New York, NY, USA: ACM

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