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Performance characteristics of micro crystal element (MiCE) detectors
Performance characteristics of micro crystal element (MiCE) detectors
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Performance characteristics of micro crystal element (MiCE) detectors

Miyaoka, R.S. ; Kohlmyer, S.G. ; Lewellen, T.K.

IEEE transactions on nuclear science, 2001-08, Vol.48 (4), p.1403-1407 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Design of a depth of interaction (DOI) PET detector module
Design of a depth of interaction (DOI) PET detector module
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Design of a depth of interaction (DOI) PET detector module

Miyaoka, R.S. ; Lewellen, T.K. ; Yu, H. ; McDaniel, D.L.

IEEE transactions on nuclear science, 1998-06, Vol.45 (3), p.1069-1073 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Investigation of the count rate performance of General Electric Advance positron emission tomograph
Investigation of the count rate performance of General Electric Advance positron emission tomograph
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Investigation of the count rate performance of General Electric Advance positron emission tomograph

Lewellen, T.K. ; Kohlmyer, S.G. ; Miyaoka, R.S. ; Schubert, S. ; Stearns, C.W.

IEEE transactions on nuclear science, 1995-08, Vol.42 (4), p.1051-1057 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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14
Study of PET Detector Performance With Varying SiPM Parameters and Readout Schemes
Study of PET Detector Performance With Varying SiPM Parameters and Readout Schemes
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Study of PET Detector Performance With Varying SiPM Parameters and Readout Schemes

Xiaoli Li ; Lockhart, C ; Lewellen, T K ; Miyaoka, R S

IEEE transactions on nuclear science, 2011-06, Vol.58 (3), p.590-596 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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Investigation of bias-free positioning estimators for the scintillation cameras
Investigation of bias-free positioning estimators for the scintillation cameras
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Investigation of bias-free positioning estimators for the scintillation cameras

Joung, J. ; Miyaoka, R.S. ; Kohlmyer, S.G. ; Lewellen, T.K.

IEEE transactions on nuclear science, 2001-06, Vol.48 (3), p.715-719 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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16
Impact of system design parameters on image figures of merit for a mouse PET scanner
Impact of system design parameters on image figures of merit for a mouse PET scanner
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Impact of system design parameters on image figures of merit for a mouse PET scanner

Kisung Lee ; Kinahan, P.E. ; Miyaoka, R.S. ; Jae-Seung Kim ; Lewellen, T.K.

IEEE transactions on nuclear science, 2004-02, Vol.51 (1), p.27-33 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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17
Detector characteristics of the micro crystal element scanner (MiCES)
Detector characteristics of the micro crystal element scanner (MiCES)
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Detector characteristics of the micro crystal element scanner (MiCES)

Kisung Lee ; Miyaoka, R.S. ; Janes, M.L. ; Lewellen, T.K.

IEEE transactions on nuclear science, 2005-10, Vol.52 (5), p.1428-1433 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Resolution Properties of a Prototype Continuous Miniature Crystal Element (cMiCE) Scanner
Resolution Properties of a Prototype Continuous Miniature Crystal Element (cMiCE) Scanner
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Resolution Properties of a Prototype Continuous Miniature Crystal Element (cMiCE) Scanner

Miyaoka, R. S. ; Xiaoli Li ; Hunter, W. ; Pierce, L. A. ; McDougald, W. ; Kinahan, P. E. ; Lewellen, T. K.

IEEE transactions on nuclear science, 2011-10, Vol.58 (5), p.2244-2249 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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19
Hot sphere detection limits for a dual head coincidence imaging system
Hot sphere detection limits for a dual head coincidence imaging system
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Hot sphere detection limits for a dual head coincidence imaging system

Miyaoka, R.S. ; Kohlmyer, S.G. ; Lewellen, T.K.

IEEE transactions on nuclear science, 1999-12, Vol.46 (6), p.2185-2191 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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20
Slat collimator design issues for dual-head coincidence imaging systems
Slat collimator design issues for dual-head coincidence imaging systems
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Slat collimator design issues for dual-head coincidence imaging systems

Joung, J. ; Miyaoka, R.S. ; Kohlmyer, S.G. ; Harrison, R.L. ; Lewellen, T.K.

IEEE transactions on nuclear science, 2002-02, Vol.49 (1), p.141-146 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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