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MaskDGA: An Evasion Attack Against DGA Classifiers and Adversarial Defenses
MaskDGA: An Evasion Attack Against DGA Classifiers and Adversarial Defenses
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MaskDGA: An Evasion Attack Against DGA Classifiers and Adversarial Defenses

Sidi, Lior ; Nadler, Asaf ; Shabtai, Asaf

IEEE access, 2020, Vol.8, p.161580-161592 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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2
Levenshtein Distance, Sequence Comparison and Biological Database Search
Levenshtein Distance, Sequence Comparison and Biological Database Search
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Levenshtein Distance, Sequence Comparison and Biological Database Search

Berger, Bonnie ; Waterman, Michael S. ; Yu, Yun William

IEEE transactions on information theory, 2021-06, Vol.67 (6), p.3287-3294 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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3
Edge Intelligence: Paving the Last Mile of Artificial Intelligence With Edge Computing
Edge Intelligence: Paving the Last Mile of Artificial Intelligence With Edge Computing
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Edge Intelligence: Paving the Last Mile of Artificial Intelligence With Edge Computing

Zhou, Zhi ; Chen, Xu ; Li, En ; Zeng, Liekang ; Luo, Ke ; Zhang, Junshan

Proceedings of the IEEE, 2019-08, Vol.107 (8), p.1738-1762 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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4
Meta-Learning in Neural Networks: A Survey
Meta-Learning in Neural Networks: A Survey
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Meta-Learning in Neural Networks: A Survey

Hospedales, Timothy ; Antoniou, Antreas ; Micaelli, Paul ; Storkey, Amos

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2022-09, Vol.44 (9), p.5149-5169 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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5
Image Super-Resolution via Iterative Refinement
Image Super-Resolution via Iterative Refinement
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Image Super-Resolution via Iterative Refinement

Saharia, Chitwan ; Ho, Jonathan ; Chan, William ; Salimans, Tim ; Fleet, David J. ; Norouzi, Mohammad

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2023-04, Vol.45 (4), p.4713-4726 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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6
Autonomous Vehicles That Interact With Pedestrians: A Survey of Theory and Practice
Autonomous Vehicles That Interact With Pedestrians: A Survey of Theory and Practice
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Autonomous Vehicles That Interact With Pedestrians: A Survey of Theory and Practice

Rasouli, Amir ; Tsotsos, John K.

IEEE transactions on intelligent transportation systems, 2020-03, Vol.21 (3), p.900-918 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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7
Towards Robust Monocular Depth Estimation: Mixing Datasets for Zero-Shot Cross-Dataset Transfer
Towards Robust Monocular Depth Estimation: Mixing Datasets for Zero-Shot Cross-Dataset Transfer
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Towards Robust Monocular Depth Estimation: Mixing Datasets for Zero-Shot Cross-Dataset Transfer

Ranftl, Rene ; Lasinger, Katrin ; Hafner, David ; Schindler, Konrad ; Koltun, Vladlen

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2022-03, Vol.44 (3), p.1623-1637 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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8
Toward Causal Representation Learning
Toward Causal Representation Learning
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Toward Causal Representation Learning

Scholkopf, Bernhard ; Locatello, Francesco ; Bauer, Stefan ; Ke, Nan Rosemary ; Kalchbrenner, Nal ; Goyal, Anirudh ; Bengio, Yoshua

Proceedings of the IEEE, 2021-05, Vol.109 (5), p.612-634 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Overview of the Versatile Video Coding (VVC) Standard and its Applications
Overview of the Versatile Video Coding (VVC) Standard and its Applications
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Overview of the Versatile Video Coding (VVC) Standard and its Applications

Bross, Benjamin ; Wang, Ye-Kui ; Ye, Yan ; Liu, Shan ; Chen, Jianle ; Sullivan, Gary J. ; Ohm, Jens-Rainer

IEEE transactions on circuits and systems for video technology, 2021-10, Vol.31 (10), p.3736-3764 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Review of Silicon Photonics Technology and Platform Development
Review of Silicon Photonics Technology and Platform Development
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Review of Silicon Photonics Technology and Platform Development

Siew, S. Y. ; Li, B. ; Gao, F. ; Zheng, H. Y. ; Zhang, W. ; Guo, P. ; Xie, S. W. ; Song, A. ; Dong, B. ; Luo, L. W. ; Li, C. ; Luo, X. ; Lo, G.-Q.

Journal of lightwave technology, 2021-07, Vol.39 (13), p.4374-4389 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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