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Study of the deep-submicron SOI MOSFET leakage current behavior at high temperatures
Study of the deep-submicron SOI MOSFET leakage current behavior at high temperatures
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Study of the deep-submicron SOI MOSFET leakage current behavior at high temperatures

Marcello Bellodi Benjamin Iniguez; Cristine Raynaud; Denis Flandre; João Antonio Martino 1959-; International Conference on Microelectronics and Packaging (15. 2000 Manaus)

SBMicro 2000: proceedings Manaus : SBMicro/UA/UFGRS/UNICAMP/USP, 2000

Manaus SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP 2000

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  1. Raynaud, C
  2. Iniguez, B
  3. Flandre, D
  4. Martino, J
  5. International Conference on Microelectronics and Packaging

Neste Assunto:

  1. Circuitos Integrados

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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