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Refinado por: assunto: Engineering Sciences remover assunto: Zinc Oxide remover
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1
Short infrared wavelength quantum cascade detectors based on m-plane ZnO/ZnMgO quantum wells
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Short infrared wavelength quantum cascade detectors based on m-plane ZnO/ZnMgO quantum wells

Jollivet, A. ; Hinkov, B. ; Pirotta, S. ; Hoang, H. ; Derelle, S. ; Jaeck, J. ; Tchernycheva, M. ; Colombelli, R. ; Bousseksou, A. ; Hugues, M. ; Le Biavan, N. ; Tamayo-Arriola, J. ; Montes Bajo, M. ; Rigutti, L. ; Hierro, A. ; Strasser, G. ; Chauveau, J.-M. ; Julien, F. H.

Applied physics letters, 2018-12, Vol.113 (25), p.251104-1 - 251104-5 [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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2
Transport of indirect excitons in ZnO quantum wells
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Transport of indirect excitons in ZnO quantum wells

Kuznetsova, Y Y ; Fedichkin, F ; Andreakou, P ; Calman, E V ; Butov, L V ; Lefebvre, P ; Bretagnon, T ; Guillet, T ; Vladimirova, M ; Morhain, C ; Chauveau, J-M

Optics letters, 2015-08, Vol.40 (15), p.3667-3670 [Periódico revisado por pares]

United States: Optical Society of America - OSA Publishing

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3
Access to residual carrier concentration in ZnO nanowires by calibrated scanning spreading resistance microscopy
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Access to residual carrier concentration in ZnO nanowires by calibrated scanning spreading resistance microscopy

Wang, L. ; Chauveau, J. M. ; Brenier, R. ; Sallet, V. ; Jomard, F. ; Sartel, C. ; Brémond, G.

Applied physics letters, 2016-03, Vol.108 (13) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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4
Nanoscale calibration of n-type ZnO staircase structures by scanning capacitance microscopy
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Nanoscale calibration of n-type ZnO staircase structures by scanning capacitance microscopy

Wang, L. ; Laurent, J. ; Chauveau, J. M. ; Sallet, V. ; Jomard, F. ; Brémond, G.

Applied physics letters, 2015-11, Vol.107 (19) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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5
Ga-doping of nonpolar m-plane ZnMgO with high Mg contents
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Ga-doping of nonpolar m-plane ZnMgO with high Mg contents

Tamayo-Arriola, J. ; Montes Bajo, M. ; Le Biavan, N. ; Lefebvre, D. ; Kurtz, A. ; Ulloa, J.M. ; Hugues, M. ; Chauveau, J.M. ; Hierro, A.

Journal of alloys and compounds, 2018-10, Vol.766, p.436-441 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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