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Grid-Connected Integrated Battery Chargers in Vehicle Applications: Review and New Solution
Grid-Connected Integrated Battery Chargers in Vehicle Applications: Review and New Solution
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Grid-Connected Integrated Battery Chargers in Vehicle Applications: Review and New Solution

Haghbin, S. ; Lundmark, S. ; Alakula, M. ; Carlson, O.

IEEE transactions on industrial electronics (1982), 2013-02, Vol.60 (2), p.459-473 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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2
6G Wireless Systems: Vision, Requirements, Challenges, Insights, and Opportunities
6G Wireless Systems: Vision, Requirements, Challenges, Insights, and Opportunities
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6G Wireless Systems: Vision, Requirements, Challenges, Insights, and Opportunities

Tataria, Harsh ; Shafi, Mansoor ; Molisch, Andreas F. ; Dohler, Mischa ; Sjoland, Henrik ; Tufvesson, Fredrik

Proceedings of the IEEE, 2021-07, Vol.109 (7), p.1166-1199 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
SPICE Modeling and Circuit Demonstration of a SiC Power IC Technology
SPICE Modeling and Circuit Demonstration of a SiC Power IC Technology
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SPICE Modeling and Circuit Demonstration of a SiC Power IC Technology

Liu, Tianshi ; Zhang, Hua ; Isukapati, Sundar Babu ; Ashik, Emran ; Morgan, Adam J. ; Lee, Bongmook ; Sung, Woongje ; Fayed, Ayman ; White, Marvin H. ; Agarwal, Anant K.

IEEE journal of the Electron Devices Society, 2022-01, Vol.10 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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4
Channel Design Optimization for 1.2-kV 4H-SiC MOSFET Achieving Inherent Unipolar Diode 3 rd Quadrant Operation
Channel Design Optimization for 1.2-kV 4H-SiC MOSFET Achieving Inherent Unipolar Diode 3 rd Quadrant Operation
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Channel Design Optimization for 1.2-kV 4H-SiC MOSFET Achieving Inherent Unipolar Diode 3 rd Quadrant Operation

Kim, Dongyoung ; Yun, Nick ; Jang, Seung Yup ; Morgan, Adam J. ; Sung, Woongje

IEEE journal of the Electron Devices Society, 2022-01, Vol.10 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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5
The Effect of Deep JFET and P-Well Implant of 1.2kV 4H-SiC MOSFETs
The Effect of Deep JFET and P-Well Implant of 1.2kV 4H-SiC MOSFETs
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The Effect of Deep JFET and P-Well Implant of 1.2kV 4H-SiC MOSFETs

Kim, Dongyoung ; Yun, Nick ; Morgan, Adam J. ; Sung, Woongje

IEEE journal of the Electron Devices Society, 2022-01, Vol.10 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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6
A Survey of App Store Analysis for Software Engineering
A Survey of App Store Analysis for Software Engineering
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A Survey of App Store Analysis for Software Engineering

Martin, William ; Sarro, Federica ; Yue Jia ; Yuanyuan Zhang ; Harman, Mark

IEEE transactions on software engineering, 2017-09, Vol.43 (9), p.817-847 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
An Inclusive Structural Analysis on the Design of 1.2kV 4H-SiC Planar MOSFETs
An Inclusive Structural Analysis on the Design of 1.2kV 4H-SiC Planar MOSFETs
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An Inclusive Structural Analysis on the Design of 1.2kV 4H-SiC Planar MOSFETs

Kim, Dongyoung ; yun, Nick ; Jang, Seung Yup ; Morgan, Adam J. ; Sung, Woongje

IEEE journal of the Electron Devices Society, 2021-01, Vol.9 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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8
Energy Stored by Radiating Systems
Energy Stored by Radiating Systems
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Energy Stored by Radiating Systems

Schab, Kurt ; Jelinek, Lukas ; Capek, Miloslav ; Ehrenborg, Casimir ; Tayli, Doruk ; Vandenbosch, Guy A. E. ; Gustafsson, Mats

IEEE access, 2018-01, Vol.6, p.10553-10568 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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9
Software-Defined Underwater Acoustic Modems: Historical Review and the NILUS Approach
Software-Defined Underwater Acoustic Modems: Historical Review and the NILUS Approach
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Software-Defined Underwater Acoustic Modems: Historical Review and the NILUS Approach

Dol, Henry S. ; Casari, Paolo ; van der Zwan, Timo ; Otnes, Roald

IEEE journal of oceanic engineering, 2017-07, Vol.42 (3), p.722-737 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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10
Performance Analysis and Enhancement of the DSRC for VANET's Safety Applications
Performance Analysis and Enhancement of the DSRC for VANET's Safety Applications
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Performance Analysis and Enhancement of the DSRC for VANET's Safety Applications

Hafeez, Khalid Abdel ; Lian Zhao ; Ma, Bobby ; Mark, Jon W.

IEEE transactions on vehicular technology, 2013-09, Vol.62 (7), p.3069-3083 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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