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Distance-based detection and prediction of outliers
Distance-based detection and prediction of outliers
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Distance-based detection and prediction of outliers

Angiulli, F. ; Basta, S. ; Pizzuti, C.

IEEE transactions on knowledge and data engineering, 2006-02, Vol.18 (2), p.145-160 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Robust Linear Regression Analysis- A Greedy Approach
Robust Linear Regression Analysis- A Greedy Approach
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Robust Linear Regression Analysis- A Greedy Approach

Papageorgiou, George ; Bouboulis, Pantelis ; Theodoridis, Sergios

IEEE transactions on signal processing, 2015-08, Vol.63 (15), p.3872-3887 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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3
Spatial–temporal traffic outlier detection by coupling road level of service
Spatial–temporal traffic outlier detection by coupling road level of service
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Spatial–temporal traffic outlier detection by coupling road level of service

Yujun, Chen ; Juhua, Pu ; Jiahong, Du ; Yue, Wang ; Zhang, Xiong

IET intelligent transport systems, 2019-06, Vol.13 (6), p.1016-1022 [Periódico revisado por pares]

The Institution of Engineering and Technology

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4
Boosting Offline Handwritten Text Recognition in Historical Documents With Few Labeled Lines
Boosting Offline Handwritten Text Recognition in Historical Documents With Few Labeled Lines
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Boosting Offline Handwritten Text Recognition in Historical Documents With Few Labeled Lines

Aradillas, Jose Carlos ; Murillo-Fuentes, Juan Jose ; Olmos, Pablo M.

IEEE access, 2021, Vol.9, p.76674-76688 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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5
Knowledge Reused Outlier Detection
Knowledge Reused Outlier Detection
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Knowledge Reused Outlier Detection

Yu, Weiren ; Ding, Zhengming ; Hu, Chunming ; Liu, Hongfu

IEEE access, 2019, Vol.7, p.43763-43772 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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6
Outlier percentage estimation for shape- and parameter-independent outlier detection
Outlier percentage estimation for shape- and parameter-independent outlier detection
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Outlier percentage estimation for shape- and parameter-independent outlier detection

Goh, Michael Joon Seng ; Chiew, Yeong Shiong ; Foo, Ji Jinn

IET image processing, 2020-12, Vol.14 (14), p.3414-3421 [Periódico revisado por pares]

The Institution of Engineering and Technology

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7
A Unifying Review of Deep and Shallow Anomaly Detection
A Unifying Review of Deep and Shallow Anomaly Detection
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A Unifying Review of Deep and Shallow Anomaly Detection

Ruff, Lukas ; Kauffmann, Jacob R. ; Vandermeulen, Robert A. ; Montavon, Gregoire ; Samek, Wojciech ; Kloft, Marius ; Dietterich, Thomas G. ; Muller, Klaus-Robert

Proceedings of the IEEE, 2021-05, Vol.109 (5), p.756-795 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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8
A Comprehensive Survey on Graph Anomaly Detection With Deep Learning
A Comprehensive Survey on Graph Anomaly Detection With Deep Learning
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A Comprehensive Survey on Graph Anomaly Detection With Deep Learning

Ma, Xiaoxiao ; Wu, Jia ; Xue, Shan ; Yang, Jian ; Zhou, Chuan ; Sheng, Quan Z. ; Xiong, Hui ; Akoglu, Leman

IEEE transactions on knowledge and data engineering, 2023-12, Vol.35 (12), p.12012-12038 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Generative Adversarial Active Learning for Unsupervised Outlier Detection
Generative Adversarial Active Learning for Unsupervised Outlier Detection
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Generative Adversarial Active Learning for Unsupervised Outlier Detection

Liu, Yezheng ; Li, Zhe ; Zhou, Chong ; Jiang, Yuanchun ; Sun, Jianshan ; Wang, Meng ; He, Xiangnan

IEEE transactions on knowledge and data engineering, 2020-08, Vol.32 (8), p.1517-1528 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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10
A Two-Phase Anomaly Detection Model for Secure Intelligent Transportation Ride-Hailing Trajectories
A Two-Phase Anomaly Detection Model for Secure Intelligent Transportation Ride-Hailing Trajectories
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A Two-Phase Anomaly Detection Model for Secure Intelligent Transportation Ride-Hailing Trajectories

Belhadi, Asma ; Djenouri, Youcef ; Srivastava, Gautam ; Djenouri, Djamel ; Cano, Alberto ; Lin, Jerry Chun-Wei

IEEE transactions on intelligent transportation systems, 2021-07, Vol.22 (7), p.4496-4506 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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