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1
Fluorescence quantum efficiency measured by thermal lens technique
Fluorescence quantum efficiency measured by thermal lens technique
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Fluorescence quantum efficiency measured by thermal lens technique

Mauro Luciano Baesso A. A Andrade; Tomaz Catunda; J. A Sampaio; S Gama; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada (20. 1997 Caxambu)

Anais São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 1997

São Paulo Sociedade Brasileira de Física 1997

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD004953-SC ) e outros locais(Acessar)

2
Sequenciamento de analise bioquimicas segundo um algoritmo de apresentacao
Sequenciamento de analise bioquimicas segundo um algoritmo de apresentacao
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Sequenciamento de analise bioquimicas segundo um algoritmo de apresentacao

Antonio Roberto Pereira Leite de Albuquerque E H Oliveira; Suely Angelo Correa Novato; Sadao Isotani; Jornada Usp-Sucesusp de Informatica e Telecomunicacoes - Sucesusp 93 (1993 São Paulo)

Anais São Paulo : Sucesu/USP, 1993

Sao Paulo Sucesu/Usp 1993

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3
Preparação e caracterização de mulita pelo processo sol-gel
Preparação e caracterização de mulita pelo processo sol-gel
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Preparação e caracterização de mulita pelo processo sol-gel

D F Bozano C Bonardi; J M Ito; M A Aegerter; Congresso Brasileiro de Ceramica (35. 1991 Belo Horizonte); Iberoamericano de Ceramica, Vidrios Y Refractarios (3. 1991 Belo Horizonte)

Anais São Paulo : Associacao Brasileira de Ceramica, 1991

Sao Paulo Associacao Brasileira de Ceramica 1991

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD001649 ) e outros locais(Acessar)

4
Produção e caracterização de filmes finos amorfos de TbFeCo
Produção e caracterização de filmes finos amorfos de TbFeCo
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Produção e caracterização de filmes finos amorfos de TbFeCo

C E Santi A. D Santos (Antonio Domingues); Escola Brasileira de Magnetismo (1. 1998 São Paulo)

Anais São Paulo : IFUSP, 1998

São Paulo IFUSP 1998

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5
Deteccao de linhas nodais por electronic speckle pattern interferometry
Deteccao de linhas nodais por electronic speckle pattern interferometry
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Deteccao de linhas nodais por electronic speckle pattern interferometry

G M Ferreira Ricardo Forneris Junior; Mikyia Maramatsu; Simposio Estadual de Lasers e Aplicacoes (5. 1992 São Paulo)

Anais São Paulo : Ipen, 1992

São Paulo Ipen 1992

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6
Desenvolvimento de um rugosimetro optico
Desenvolvimento de um rugosimetro optico
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Desenvolvimento de um rugosimetro optico

H P S Correa M Maramatsu; Simposio Estadual de Lasers e Aplicacoes (5. 1992 São Paulo)

Anais São Paulo : Ipen, 1992

São Paulo Ipen 1992

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7
Electroreflectance and photoresponse of 'NIO IND.X' thin films
Electroreflectance and photoresponse of 'NIO IND.X' thin films
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Electroreflectance and photoresponse of 'NIO IND.X' thin films

Márcia Carvalho de Abreu Fantini A Gorenstein; W M Shen; M Tomkiewicz; Optica Materials Technology for Energy Efficiency and Solar Nergyconversion (11. 1992 São Diego)

Anais Washington : Spie, 1992

Washington Spie 1992

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8
Magnetismo em metais
Magnetismo em metais
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Magnetismo em metais

S Frota-Pessoa Escola Brasileira de Magnetismo (1. 1998 São Paulo)

Anais São Paulo : Ifusp, 1998

São Paulo IFUSP 1998

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9
Modelo de Preisach aplicado aos ímãs permanentes
Modelo de Preisach aplicado aos ímãs permanentes
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Modelo de Preisach aplicado aos ímãs permanentes

F. P. Missell Escola Brasileira de Magnetismo (1. 1998 São Paulo)

Anais São Paulo : Ifusp, 1998

São Paulo IFUSP 1998

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10
Aerogeis de niobia para fins cataliticos
Aerogeis de niobia para fins cataliticos
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Aerogeis de niobia para fins cataliticos

A A Rabelo A O Florentino; Marcelo de Assumpção Pereira da Silva; M A Aegerter; Simposio Brasileiro de Microscopia Eletronica e Tecnicas Associadas a Pesquisa de Materiais (4. 1994 São Carlos)

Anais São Paulo : Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1994

São Paulo Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica 1994

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