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1
Low-Frequency Noise in Vertical InAs Nanowire FETs
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Artigo
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Low-Frequency Noise in Vertical InAs Nanowire FETs

Persson, Karl-Magnus ; Lind, Erik ; Dey, Anil W ; Thelander, Claes ; Sjoland, Henrik ; Wernersson, Lars-Erik

IEEE electron device letters, 2010-05, Vol.31 (5), p.428-430 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Bias-temperature stress of Al on porous low- k dielectrics
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Bias-temperature stress of Al on porous low- k dielectrics

He, Ming ; Li, Huafang ; Wang, Pei-I ; Lu, Toh-Ming

Microelectronics and reliability, 2011-08, Vol.51 (8), p.1342-1345 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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3
MICROWAVE DIELECTRIC PROPERTIES OF Mn:BST AND PST THIN-FILMS
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MICROWAVE DIELECTRIC PROPERTIES OF Mn:BST AND PST THIN-FILMS

SUBRAMANYAM, GURU ; CHEN, CHONGLIN ; DEY, SANDWIP

Integrated ferroelectrics, 2005-12, Vol.77 (1), p.189-197 [Periódico revisado por pares]

Taylor & Francis Group

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