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1
1 volt Josephson fast reversed dc source
1 volt Josephson fast reversed dc source
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1 volt Josephson fast reversed dc source

Burroughs, C.J. ; Benz, S.P. ; Harvey, T.E. ; Sasaki, H.

Conference on Precision Electromagnetic Measurements. Conference Digest. CPEM 2000 (Cat. No.00CH37031), 2000, p.341-342

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2
Recent developments in BIPM voltage standard comparisons
Recent developments in BIPM voltage standard comparisons
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Recent developments in BIPM voltage standard comparisons

Reymann, D. ; Witt, T.J. ; Vrabcek, P. ; Tang, Y.H. ; Hamilton, C.A. ; Katkov, A. ; Mendeleyev, D.I. ; Jeanneret, B. ; Power, O.

Conference on Precision Electromagnetic Measurements. Conference Digest. CPEM 2000 (Cat. No.00CH37031), 2000, p.253-254

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3
International comparison of 50/60 Hz power (1996-1999)
International comparison of 50/60 Hz power (1996-1999)
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International comparison of 50/60 Hz power (1996-1999)

Oldham, N. ; Nelson, T. ; Bergeest, R. ; Carranza, R. ; Gibbes, M. ; Jones, K. ; Kyriazis, G. ; Laiz, H. ; Liu, L. ; Lu, Z. ; Pogliano, U. ; Rydler, K. ; Shapiro, E. ; So, E. ; Temba, M. ; Wright, P.

Conference on Precision Electromagnetic Measurements. Conference Digest. CPEM 2000 (Cat. No.00CH37031), 2000, p.66-67

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4
Least-squares fitting of the current drift for a DVM-based comparison method
Least-squares fitting of the current drift for a DVM-based comparison method
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Least-squares fitting of the current drift for a DVM-based comparison method

de Aguilar, J.D. ; Zorzano, R. ; Rodriguez, M.

Conference on Precision Electromagnetic Measurements. Conference Digest. CPEM 2000 (Cat. No.00CH37031), 2000, p.371-372

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5
International comparison of a pulse calibrator used in high voltage impulse calibration
International comparison of a pulse calibrator used in high voltage impulse calibration
Material Type:
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International comparison of a pulse calibrator used in high voltage impulse calibration

Yi Li ; Rungis, J. ; McComb, T.R. ; Lucas, W.

Conference on Precision Electromagnetic Measurements. Conference Digest. CPEM 2000 (Cat. No.00CH37031), 2000, p.60-61

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6
North American interlaboratory comparison of 10 V Josephson voltage standards
North American interlaboratory comparison of 10 V Josephson voltage standards
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North American interlaboratory comparison of 10 V Josephson voltage standards

Deaver, D. ; Miller, W.B. ; Pardo, L. ; Jaeger, K. ; Plowman, D. ; Hamilton, C.A.

Conference on Precision Electromagnetic Measurements. Conference Digest. CPEM 2000 (Cat. No.00CH37031), 2000, p.249-250

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7
Quantum Hall sample characterization
Quantum Hall sample characterization
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Quantum Hall sample characterization

Sakarya, H. ; Rietveld, G.

Conference on Precision Electromagnetic Measurements. Conference Digest. CPEM 2000 (Cat. No.00CH37031), 2000, p.562-563

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8
Development of a programmable bipolar Josephson-array voltage-standard
Development of a programmable bipolar Josephson-array voltage-standard
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Development of a programmable bipolar Josephson-array voltage-standard

Liefrink, F. ; Houtzager, E. ; de Jong, G. ; Teunissen, P. ; Heimeriks, J.W. ; Dyrseth, A.A. ; Royset, A. ; Johnsen, L. ; Behr, R. ; Kohlmann, J. ; Schulze, H. ; Vollmer, E. ; Niemeyer, J.

Conference on Precision Electromagnetic Measurements. Conference Digest. CPEM 2000 (Cat. No.00CH37031), 2000, p.395-396

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9
Comparison of high frequency AC-DC voltage transfer standards at NRC, VSL, PTB and NIST
Comparison of high frequency AC-DC voltage transfer standards at NRC, VSL, PTB and NIST
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Comparison of high frequency AC-DC voltage transfer standards at NRC, VSL, PTB and NIST

Filipski, P.S. ; Van Mullem, C.J. ; Janik, D. ; Klonz, M. ; Kinard, J.R. ; Lipe, T. ; Waltrip, B.

Conference on Precision Electromagnetic Measurements. Conference Digest. CPEM 2000 (Cat. No.00CH37031), 2000, p.226-227

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10
Interlaboratory comparison of Josephson Voltage Standards (JVS) between NIST and Lockheed Martin Astronautics (LMA)
Interlaboratory comparison of Josephson Voltage Standards (JVS) between NIST and Lockheed Martin Astronautics (LMA)
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Interlaboratory comparison of Josephson Voltage Standards (JVS) between NIST and Lockheed Martin Astronautics (LMA)

Tang, Y.H. ; Miller, W.B.

Conference on Precision Electromagnetic Measurements. Conference Digest. CPEM 2000 (Cat. No.00CH37031), 2000, p.257-258

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