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Use of SKT-04 semiconductor spectrometer in nuclear microanalysis
Use of SKT-04 semiconductor spectrometer in nuclear microanalysis
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Use of SKT-04 semiconductor spectrometer in nuclear microanalysis

Gamayunov, S.N. ; Gurbich, A.F. ; Maisyukov, V.D. ; Shevchenko, A.P. ; Shorin, V.S.

Instrum. Exp. Tech. (Engl. Transl.); (United States), Vol.29:3

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2
High-speed special-purpose processor for event selection by number of direct tracks
High-speed special-purpose processor for event selection by number of direct tracks
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High-speed special-purpose processor for event selection by number of direct tracks

Kalinnikov, V.A. ; Krastev, V.R. ; Chudakov, E.A.

Instrum. Exp. Tech. (Engl. Transl.); (United States), Vol.29:3

United States

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3
Moessbauer spectrometer based on UNO-4096-90 accumulator and Elektronika D3-28 microcomputer for simultaneous recording of four spectra
Moessbauer spectrometer based on UNO-4096-90 accumulator and Elektronika D3-28 microcomputer for simultaneous recording of four spectra
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Moessbauer spectrometer based on UNO-4096-90 accumulator and Elektronika D3-28 microcomputer for simultaneous recording of four spectra

Romanov, E.S. ; Ivoilov, N.G.

Instrum. Exp. Tech. (Engl. Transl.); (United States), Vol.29:3

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4
16-channel detector for UMB-1 beta spectrometer
16-channel detector for UMB-1 beta spectrometer
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16-channel detector for UMB-1 beta spectrometer

Amulyavichyus, A.P. ; Davidonis, R.Yu ; Kalinauskas, R.A. ; Remeikis, V.V. ; Steponavichyus, S.I. ; Tamolyunas, I.I.

Instrum. Exp. Tech. (Engl. Transl.); (United States), Vol.29:3

United States

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5
Stability of scintillation spectrometer with NaI(TZ) crystal and FEU-49 photomultiplier at high count rates
Stability of scintillation spectrometer with NaI(TZ) crystal and FEU-49 photomultiplier at high count rates
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Stability of scintillation spectrometer with NaI(TZ) crystal and FEU-49 photomultiplier at high count rates

Belousov, A.S. ; Vazdik, Ya.A. ; Malinovskii, E.N. ; Rusadov, S.V. ; Solov-ev, Yu.V. ; Fomenko, A.M. ; Shareiko, P.N.

Instrum. Exp. Tech. (Engl. Transl.); (United States), Vol.29:3

United States

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6
Measurement of angle characteristics of scattering chamber
Measurement of angle characteristics of scattering chamber
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Measurement of angle characteristics of scattering chamber

Kuterbekov, K.A. ; Yushkov, A.V.

Instrum. Exp. Tech. (Engl. Transl.); (United States), Vol.29:3

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7
Modular crate controllers
Modular crate controllers
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Modular crate controllers

Gorbunov, N.V. ; Ermolin, Yu.V. ; Mamakov, P.V. ; Rybakov, V.G. ; Sytin, A.N.

Instrum. Exp. Tech. (Engl. Transl.); (United States), Vol.29:3

United States

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8
Analysis of proposed new standards for experiment automation
Analysis of proposed new standards for experiment automation
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Analysis of proposed new standards for experiment automation

Basiladze, S.G.

Instrum. Exp. Tech. (Engl. Transl.); (United States), Vol.29:3

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9
Determination of registration time of heavy nuclei in dielectric track detectors
Determination of registration time of heavy nuclei in dielectric track detectors
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Determination of registration time of heavy nuclei in dielectric track detectors

Gertsen, G.P. ; Dashin, S.A. ; Marennyi, A.M. ; Sal'nikov, N.V. ; Shalfeev, I.M.

Instrum. Exp. Tech. (Engl. Transl.); (United States), Vol.29:3

United States

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10
Electron detector for Moessbauer spectroscopy based on microchannel plates
Electron detector for Moessbauer spectroscopy based on microchannel plates
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Electron detector for Moessbauer spectroscopy based on microchannel plates

Amulyavichyus, A.P. ; Davidonis, R.Yu

Instrum. Exp. Tech. (Engl. Transl.); (United States), Vol.29:3

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