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Development of fast scanning module with a novel bubble solution applied to scanning acoustic microscopy system for industrial nondestructive inspection
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Artigo
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Development of fast scanning module with a novel bubble solution applied to scanning acoustic microscopy system for industrial nondestructive inspection

Pham, Van Hiep ; Vo, Tan Hung ; Vu, Dinh Dat ; Choi, Jaeyeop ; Park, Sumin ; Mondal, Sudip ; Lee, Byeong-il ; Oh, Junghwan

Expert systems with applications, 2023-10, Vol.228, p.120273, Article 120273 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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2
Automated visual inspection in the semiconductor industry: A survey
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Automated visual inspection in the semiconductor industry: A survey

Huang, Szu-Hao ; Pan, Ying-Cheng

Computers in industry, 2015-01, Vol.66, p.1-10 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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3
Optimal periodic and random inspections with first, last and overtime policies
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Artigo
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Optimal periodic and random inspections with first, last and overtime policies

Zhao, Xufeng ; Nakagawa, Toshio

International journal of systems science, 2015-07, Vol.46 (9), p.1648-1660 [Periódico revisado por pares]

Taylor & Francis

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4
Economic production lot sizing under imperfect quality, on-line inspection, and inspection errors: Full vs. sampling inspection
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Economic production lot sizing under imperfect quality, on-line inspection, and inspection errors: Full vs. sampling inspection

Bose, Dipankar ; Guha, Apratim

Computers & industrial engineering, 2021-10, Vol.160, p.107565, Article 107565 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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5
Evaluation and Enhancement of Resolution-Aware Coverage Path Planning Method for Surface Inspection Using Unmanned Aerial Vehicles
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Artigo
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Evaluation and Enhancement of Resolution-Aware Coverage Path Planning Method for Surface Inspection Using Unmanned Aerial Vehicles

Wu, Weitong ; Funabora, Yuki ; Doki, Shinji ; Doki, Kae ; Yoshikawa, Satoru ; Mitsuda, Tetsuji ; Xiang, Jingyu

IEEE access, 2024, Vol.12, p.16753-16766 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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6
Sweep scan path planning for five-axis inspection of free-form surfaces
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Sweep scan path planning for five-axis inspection of free-form surfaces

Zhang, Yang ; Zhou, Zi ; Tang, Kai

Robotics and computer-integrated manufacturing, 2018-02, Vol.49, p.335-348 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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7
Unmanned Aerial Vehicles (UAVs): A Survey on Civil Applications and Key Research Challenges
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Artigo
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Unmanned Aerial Vehicles (UAVs): A Survey on Civil Applications and Key Research Challenges

Shakhatreh, Hazim ; Sawalmeh, Ahmad H. ; Al-Fuqaha, Ala ; Dou, Zuochao ; Almaita, Eyad ; Khalil, Issa ; Othman, Noor Shamsiah ; Khreishah, Abdallah ; Guizani, Mohsen

IEEE access, 2019, Vol.7, p.48572-48634 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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8
Computer vision technology for food quality evaluation
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Livro
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Computer vision technology for food quality evaluation

Sun, Da-Wen

Amsterdam: Elsevier/Academic Press 2008

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9
Importance Measure for Multilevel Inspections of Multistate Systems: A Value of Information Perspective
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Importance Measure for Multilevel Inspections of Multistate Systems: A Value of Information Perspective

Zhang, Boyuan ; Liu, Yu ; Xiahou, Tangfan

IEEE transactions on reliability, 2024-06, Vol.73 (2), p.885-901 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Condition-Based Maintenance Planning for Systems Subject to Dependent Soft and Hard Failures
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Artigo
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Condition-Based Maintenance Planning for Systems Subject to Dependent Soft and Hard Failures

Hu, Jiawen ; Sun, Qiuzhuang ; Ye, Zhi-Sheng

IEEE transactions on reliability, 2021-12, Vol.70 (4), p.1468-1480 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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