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Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices
Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices

Tomás Lamas Sérgio Luiz Morelhão; André Perrotta; A. A Quivy (Alain André); Raul de Oliveira Freitas; Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais (SBPMat) ( 5nd. 2006 Florianopólis, St Catarina )

Poster Session Rio de Janeiro : SBPMat, 2006

Rio de Janeiro SBPMat 2006

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  1. Quivy, A
  2. Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais (SBPMat)
  3. Lamas, T
  4. Perrotta, A
  5. Freitas, R

Neste Assunto:

  1. Materiais (Pesquisa)
  2. Semicondutores

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