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Direct observation of nonequivalent Fermi-arc states of opposite surfaces in the noncentrosymmetric Weyl semimetal NbP
Direct observation of nonequivalent Fermi-arc states of opposite surfaces in the noncentrosymmetric Weyl semimetal NbP
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Direct observation of nonequivalent Fermi-arc states of opposite surfaces in the noncentrosymmetric Weyl semimetal NbP

Souma, S. ; Wang, Zhiwei ; Kotaka, H. ; Sato, T. ; Nakayama, K. ; Tanaka, Y. ; Kimizuka, H. ; Takahashi, T. ; Yamauchi, K. ; Oguchi, T. ; Segawa, Kouji ; Ando, Yoichi

Physical review. B, 2016-04, Vol.93 (16), Article 161112 [Periódico revisado por pares]

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Optical hyperpolarization of nitrogen donor spins in bulk diamond
Optical hyperpolarization of nitrogen donor spins in bulk diamond
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Optical hyperpolarization of nitrogen donor spins in bulk diamond

Loretz, M. ; Takahashi, H. ; Segawa, T. F. ; Boss, J. M. ; Degen, C. L.

Physical review. B, 2017-02, Vol.95 (6), Article 064413 [Periódico revisado por pares]

College Park: American Physical Society

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Self-organized charge puddles in a three-dimensional topological material
Self-organized charge puddles in a three-dimensional topological material
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Self-organized charge puddles in a three-dimensional topological material

Borgwardt, N ; Lux, J ; Vergara, I ; Wang, Zhiwei ; Taskin, A A ; Segawa, Kouji ; van Loosdrecht, P H M ; Ando, Yoichi ; Rosch, A ; Gruninger, M

Physical review. B, 2016-06, Vol.93 (24) [Periódico revisado por pares]

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Efficient fabrication process for superconducting integrated circuits using photosensitive polyimide insulation layers
Efficient fabrication process for superconducting integrated circuits using photosensitive polyimide insulation layers
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Efficient fabrication process for superconducting integrated circuits using photosensitive polyimide insulation layers

Kikuchi, K. ; Goto, M. ; Nakagawa, H. ; Segawa, S. ; Tokoro, K. ; Taino, T. ; Myoren, H. ; Takada, S. ; Aoyagi, M.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2005-06, Vol.15 (2), p.94-97 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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