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FPGA Design Methodology for Industrial Control Systems-A Review
FPGA Design Methodology for Industrial Control Systems-A Review
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FPGA Design Methodology for Industrial Control Systems-A Review

Monmasson, E. ; Cirstea, M.N.

IEEE transactions on industrial electronics (1982), 2007-08, Vol.54 (4), p.1824-1842 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Compiler-Directed Soft Error Mitigation for Embedded Systems
Compiler-Directed Soft Error Mitigation for Embedded Systems
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Compiler-Directed Soft Error Mitigation for Embedded Systems

Martinez-Alvarez, A. ; Cuenca-Asensi, S. ; Restrepo-Calle, F. ; Pinto, F. R. P. ; Guzman-Miranda, H. ; Aguirre, M. A.

IEEE transactions on dependable and secure computing, 2012-03, Vol.9 (2), p.159-172

Washington: IEEE

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Multi-FPGA digital hardware design for detailed large-scale real-time electromagnetic transient simulation of power systems
Multi-FPGA digital hardware design for detailed large-scale real-time electromagnetic transient simulation of power systems
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Multi-FPGA digital hardware design for detailed large-scale real-time electromagnetic transient simulation of power systems

Chen, Yuan ; Dinavahi, Venkata

IET generation, transmission & distribution, 2013-05, Vol.7 (5), p.451-463 [Periódico revisado por pares]

Stevenage: The Institution of Engineering and Technology

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4
Compact Models for Memristors Based on Charge-Flux Constitutive Relationships
Compact Models for Memristors Based on Charge-Flux Constitutive Relationships
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Compact Models for Memristors Based on Charge-Flux Constitutive Relationships

Shin, Sangho ; Kim, Kyungmin ; Kang, Sung-Mo

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2010-04, Vol.29 (4), p.590-598 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
DRAMSim2: A Cycle Accurate Memory System Simulator
DRAMSim2: A Cycle Accurate Memory System Simulator
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DRAMSim2: A Cycle Accurate Memory System Simulator

Rosenfeld, P ; Cooper-Balis, E ; Jacob, B

IEEE computer architecture letters, 2011-01, Vol.10 (1), p.16-19 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Remote Device Management via Smart Contracts
Remote Device Management via Smart Contracts
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Remote Device Management via Smart Contracts

Islam, Md Nazmul ; Kundu, Sandip

IEEE transactions on consumer electronics, 2022-02, Vol.68 (1), p.38-46 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Echo State Networks for Black-Box Modeling of Integrated Circuits
Echo State Networks for Black-Box Modeling of Integrated Circuits
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Echo State Networks for Black-Box Modeling of Integrated Circuits

Magerl, Marko ; Ceperic, Vladimir ; Baric, Adrijan

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2016-08, Vol.35 (8), p.1309-1317 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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8
Physical education image analysis based on virtual crowd simulation and FPGA
Physical education image analysis based on virtual crowd simulation and FPGA
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Physical education image analysis based on virtual crowd simulation and FPGA

Leilei, Wang ; Huina, Cheng

Microprocessors and microsystems, 2020-11, Vol.79, p.1 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier BV

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9
Feature Indented Assertions for Analog and Mixed-Signal Validation
Feature Indented Assertions for Analog and Mixed-Signal Validation
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Feature Indented Assertions for Analog and Mixed-Signal Validation

Ain, Antara ; Bruto da Costa, Antonio Anastasio ; Dasgupta, Pallab

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2016-11, Vol.35 (11), p.1928-1941 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Application of Heterogeneous Computing Techniques for the Development of an Image-Based Hot Spot Detection System Using MTCA
Application of Heterogeneous Computing Techniques for the Development of an Image-Based Hot Spot Detection System Using MTCA
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Application of Heterogeneous Computing Techniques for the Development of an Image-Based Hot Spot Detection System Using MTCA

Esquembri, Sergio ; Nieto, Julian ; Carpeno, Antonio ; Ruiz, Mariano ; Astrain, Miguel ; Costa, Victor ; de Gracia, Alberto

IEEE transactions on nuclear science, 2021-08, Vol.68 (8), p.2151-2158 [Periódico revisado por pares]

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