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Integrable all-optical pass switch
Integrable all-optical pass switch
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Integrable all-optical pass switch

Datta, T ; Sen, M

Electronics letters, 2018-12, Vol.54 (25), p.1446-1448 [Periódico revisado por pares]

The Institution of Engineering and Technology

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2
Temperature and Resistance Profile on HTS Tape During Fault and Recovery in Modular SFCL Unit
Temperature and Resistance Profile on HTS Tape During Fault and Recovery in Modular SFCL Unit
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Temperature and Resistance Profile on HTS Tape During Fault and Recovery in Modular SFCL Unit

Bharti, Reetu ; Kataria, Sagar ; Chand, Sumit ; Kumar, Rajesh ; Datta, T. S. ; Kar, Soumen

IEEE transactions on applied superconductivity, 2020-08, Vol.30 (5), p.1-6 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Layered Tabu Search Algorithm for Large-MIMO Detection and a Lower Bound on ML Performance
Layered Tabu Search Algorithm for Large-MIMO Detection and a Lower Bound on ML Performance
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Layered Tabu Search Algorithm for Large-MIMO Detection and a Lower Bound on ML Performance

Srinidhi, N. ; Datta, T. ; Chockalingam, A. ; Rajan, B. S.

IEEE transactions on communications, 2011-11, Vol.59 (11), p.2955-2963 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
Low-Complexity Detection in Large-Dimension MIMO-ISI Channels Using Graphical Models
Low-Complexity Detection in Large-Dimension MIMO-ISI Channels Using Graphical Models
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Low-Complexity Detection in Large-Dimension MIMO-ISI Channels Using Graphical Models

Som, P. ; Datta, T. ; Srinidhi, N. ; Chockalingam, A. ; Rajan, B. S.

IEEE journal of selected topics in signal processing, 2011-12, Vol.5 (8), p.1497-1511 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
A new technique for the measurement of AC loss in second-generation HTS tapes
A new technique for the measurement of AC loss in second-generation HTS tapes
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A new technique for the measurement of AC loss in second-generation HTS tapes

Soulen, R.J. ; Osofsky, M.S. ; Patten, M. ; Datta, T.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2005-06, Vol.15 (2), p.2381-2384 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
Mismatch compensation of CMOS current mirrors using floating-gate transistors
Mismatch compensation of CMOS current mirrors using floating-gate transistors
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Mismatch compensation of CMOS current mirrors using floating-gate transistors

Datta, T. ; Abshire, P.

2009 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2009, p.1823-1826

IEEE

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7
Mismatch compensation of a subthreshold CMOS current normalizer
Mismatch compensation of a subthreshold CMOS current normalizer
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Mismatch compensation of a subthreshold CMOS current normalizer

Sander, D ; Datta, T ; Abshire, P

2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2010, p.3409-3412

IEEE

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8
Definition, design & development of the IXE2424 Network Switch/Router ASIC
Definition, design & development of the IXE2424 Network Switch/Router ASIC
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Definition, design & development of the IXE2424 Network Switch/Router ASIC

Datta, T. ; Muralidharan, C.S.

Proceedings of ASP-DAC/VLSI Design 2002. 7th Asia and South Pacific Design Automation Conference and 15h International Conference on VLSI Design, 2002, p.801

IEEE

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9
Confession session: Learning from others mistakes
Confession session: Learning from others mistakes
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Confession session: Learning from others mistakes

Abshire, P. ; Bermak, A. ; Berner, R. ; Cauwenberghs, G. ; Chen, S. ; Christen, J. B. ; Constandinou, T. ; Culurciello, E. ; Dandin, M. ; Datta, T. ; Delbruck, T. ; Dudek, P. ; Eftekhar, A. ; Etienne-Cummings, R. ; Indiveri, G. ; Law, M. K. ; Linares-Barranco, B. ; Tapson, J. ; Tang, W. ; Zhai, Y.

2011 IEEE International Symposium of Circuits and Systems (ISCAS), 2011, p.1149-1162

IEEE

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10
Development of Novel MOSFET with Front and Back Side Electrodes for 3D-Structured Image Sensors
Development of Novel MOSFET with Front and Back Side Electrodes for 3D-Structured Image Sensors
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Development of Novel MOSFET with Front and Back Side Electrodes for 3D-Structured Image Sensors

Goto, Masahide ; Hagiwara, Kei ; Iguchi, Yoshinori ; Ohtake, Hiroshi ; Saraya, Takuya ; Toshiyoshi, Hiroshi ; Hiramoto, Toshiro

ECS transactions, 2013, Vol.50 (14), p.49-54

The Electrochemical Society, Inc

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