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Using intelligent technology and real-time feedback algorithm to improve manufacturing process in IoT semiconductor industry
Using intelligent technology and real-time feedback algorithm to improve manufacturing process in IoT semiconductor industry
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Using intelligent technology and real-time feedback algorithm to improve manufacturing process in IoT semiconductor industry

Li, Bin ; Chen, Ruey-Shun ; Liu, C.-Y.

The Journal of supercomputing, 2021-05, Vol.77 (5), p.4639-4658 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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2
Optimum control limits for employing statistical process control in software process
Optimum control limits for employing statistical process control in software process
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Optimum control limits for employing statistical process control in software process

Jalote, P. ; Saxena, A.

IEEE transactions on software engineering, 2002-12, Vol.28 (12), p.1126-1134 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
A formal model of the software test process
A formal model of the software test process
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A formal model of the software test process

Cangussu, J.W. ; DeCarlo, R.A. ; Mathur, A.P.

IEEE transactions on software engineering, 2002-08, Vol.28 (8), p.782-796 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Timed Communicating Object Z
Timed Communicating Object Z
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Timed Communicating Object Z

Mahony, B. ; Jin Song Dong

IEEE transactions on software engineering, 2000-02, Vol.26 (2), p.150-177 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
An Experience Report on Producing Verifiable Builds for Large-Scale Commercial Systems
An Experience Report on Producing Verifiable Builds for Large-Scale Commercial Systems
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An Experience Report on Producing Verifiable Builds for Large-Scale Commercial Systems

Shi, Yong ; Wen, Mingzhi ; Cogo, Filipe R. ; Chen, Boyuan ; Jiang, Zhen Ming

IEEE transactions on software engineering, 2022-09, Vol.48 (9), p.3361-3377 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Requirements specification for process-control systems
Requirements specification for process-control systems
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Requirements specification for process-control systems

Leveson, N.G. ; Heimdahl, M.P.E. ; Hildreth, H. ; Reese, J.D.

IEEE transactions on software engineering, 1994-09, Vol.20 (9), p.684-707 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
Control and Discovery of Environment Behaviour
Control and Discovery of Environment Behaviour
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Control and Discovery of Environment Behaviour

Keegan, Maureen ; Braberman, Victor A. ; D'Ippolito, Nicolas ; Piterman, Nir ; Uchitel, Sebastian

IEEE transactions on software engineering, 2022-06, Vol.48 (6), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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8
Semantic Learning and Emulation Based Cross-Platform Binary Vulnerability Seeker
Semantic Learning and Emulation Based Cross-Platform Binary Vulnerability Seeker
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Semantic Learning and Emulation Based Cross-Platform Binary Vulnerability Seeker

Gao, Jian ; Jiang, Yu ; Liu, Zhe ; Yang, Xin ; Wang, Cong ; Jiao, Xun ; Yang, Zijiang ; Sun, Jiaguang

IEEE transactions on software engineering, 2021-11, Vol.47 (11), p.2575-2589 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
ErrHunter: Detecting Error-Handling Bugs in the Linux Kernel Through Systematic Static Analysis
ErrHunter: Detecting Error-Handling Bugs in the Linux Kernel Through Systematic Static Analysis
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ErrHunter: Detecting Error-Handling Bugs in the Linux Kernel Through Systematic Static Analysis

Zhan, Dongyang ; Yu, Xiangzhan ; Zhang, Hongli ; Ye, Lin

IEEE transactions on software engineering, 2023-02, Vol.49 (2), p.684-698 [Periódico revisado por pares]

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10
Improving Test Data Generation for MPI Program Path Coverage With FERPSO-IMPR and Surrogate-Assisted Models
Improving Test Data Generation for MPI Program Path Coverage With FERPSO-IMPR and Surrogate-Assisted Models
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Improving Test Data Generation for MPI Program Path Coverage With FERPSO-IMPR and Surrogate-Assisted Models

Wang, Yong ; Cui, Wenzhong ; Wang, Gai-Ge ; Wang, Jian ; Gong, Dunwei

IEEE transactions on software engineering, 2024-03, Vol.50 (3), p.495-511 [Periódico revisado por pares]

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