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Ion-induced nanopatterns on semiconductor surfaces investigated by grazing incidence x-ray scattering techniques
Ion-induced nanopatterns on semiconductor surfaces investigated by grazing incidence x-ray scattering techniques
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Ion-induced nanopatterns on semiconductor surfaces investigated by grazing incidence x-ray scattering techniques

Carbone, D ; Biermanns, A ; Ziberi, B ; Frost, F ; Plantevin, O ; Pietsch, U ; Metzger, T H

Journal of physics. Condensed matter, 2009-06, Vol.21 (22), p.224007-224007 (23) [Periódico revisado por pares]

England: IOP Publishing

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2
Ordered Micro/Mesoporous Composite Prepared as Thin Films
Ordered Micro/Mesoporous Composite Prepared as Thin Films
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Ordered Micro/Mesoporous Composite Prepared as Thin Films

Petkov, N ; Hölzl, M ; Metzger, T. H ; Mintova, S ; Bein, T

The journal of physical chemistry. B, 2005-03, Vol.109 (10), p.4485-4491 [Periódico revisado por pares]

United States: American Chemical Society

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3
SOFC characteristics along the flow path
SOFC characteristics along the flow path
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SOFC characteristics along the flow path

Metzger, P. ; Friedrich, K.-A. ; Müller-Steinhagen, H. ; Schiller, G.

Solid state ionics, 2006-10, Vol.177 (19), p.2045-2051 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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4
Three-Dimensional Composition Profiles of Single Quantum Dots Determined by Scanning-Probe-Microscopy-Based Nanotomography
Three-Dimensional Composition Profiles of Single Quantum Dots Determined by Scanning-Probe-Microscopy-Based Nanotomography
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Three-Dimensional Composition Profiles of Single Quantum Dots Determined by Scanning-Probe-Microscopy-Based Nanotomography

Rastelli, Armando ; Stoffel, Mathieu ; Malachias, Angelo ; Merdzhanova, Tsvetelina ; Katsaros, Georgios ; Kern, Klaus ; Metzger, Till H ; Schmidt, Oliver G

Nano letters, 2008-05, Vol.8 (5), p.1404-1409 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Chemical Society

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5
Imaging the displacement field within epitaxial nanostructures by coherent diffraction: a feasibility study
Imaging the displacement field within epitaxial nanostructures by coherent diffraction: a feasibility study
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Imaging the displacement field within epitaxial nanostructures by coherent diffraction: a feasibility study

Diaz, Ana ; Chamard, Virginie ; Mocuta, Cristian ; Magalhães-Paniago, Rogerio ; Stangl, Julian ; Carbone, Dina ; Metzger, Till H ; Bauer, Günther

New journal of physics, 2010-03, Vol.12 (3), p.035006 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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6
Elucidation of Pt Clusters in the Micropores of Zeolite Nanoparticles Assembled in Thin Films
Elucidation of Pt Clusters in the Micropores of Zeolite Nanoparticles Assembled in Thin Films
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Elucidation of Pt Clusters in the Micropores of Zeolite Nanoparticles Assembled in Thin Films

Yordanov, Ivan ; Knoerr, Raphael ; De Waele, Vincent ; Bazin, Philippe ; Thomas, Sébastien ; Rivallan, Mickël ; Lakiss, Louwanda ; Metzger, Till H ; Mintova, Svetlana

Journal of physical chemistry. C, 2010-12, Vol.114 (49), p.20974-20982 [Periódico revisado por pares]

American Chemical Society

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7
Analysis of strain and stacking faults in single nanowires using Bragg coherent diffraction imaging
Analysis of strain and stacking faults in single nanowires using Bragg coherent diffraction imaging
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Analysis of strain and stacking faults in single nanowires using Bragg coherent diffraction imaging

Favre-Nicolin, V ; Mastropietro, F ; Eymery, J ; Camacho, D ; Niquet, Y M ; Borg, B M ; Messing, M E ; Wernersson, L-E ; Algra, R E ; Bakkers, E P A M ; Metzger, T H ; Harder, R ; Robinson, I K

New journal of physics, 2010-03, Vol.12 (3), p.035013 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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Direct determination of strain and composition profiles in SiGe islands by anomalous x-Ray diffraction at high momentum transfer
Direct determination of strain and composition profiles in SiGe islands by anomalous x-Ray diffraction at high momentum transfer
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Direct determination of strain and composition profiles in SiGe islands by anomalous x-Ray diffraction at high momentum transfer

Schülli, T U ; Stangl, J ; Zhong, Z ; Lechner, R T ; Sztucki, M ; Metzger, T H ; Bauer, G

Physical review letters, 2003-02, Vol.90 (6), p.066105-066105, Article 066105 [Periódico revisado por pares]

United States

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Evidence of stacking-fault distribution along an InAs nanowire using micro-focused coherent X-ray diffraction
Evidence of stacking-fault distribution along an InAs nanowire using micro-focused coherent X-ray diffraction
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Evidence of stacking-fault distribution along an InAs nanowire using micro-focused coherent X-ray diffraction

Chamard, Virginie ; Stangl, Julian ; Labat, Stephane ; Mandl, Bernhard ; Lechner, Rainer T. ; Metzger, Till H.

Journal of applied crystallography, 2008-04, Vol.41 (2), p.272-280 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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10
Stretching and mixing in sheared particulate suspensions
Stretching and mixing in sheared particulate suspensions
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Stretching and mixing in sheared particulate suspensions

Souzy, M. ; Lhuissier, H. ; Villermaux, E. ; Metzger, B.

Journal of fluid mechanics, 2017-02, Vol.812, p.611-635 [Periódico revisado por pares]

Cambridge, UK: Cambridge University Press

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