Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Sistemas Alternativos para Obtenção de Imagens Aéreas e sua Aplicação na AgriculturaSouza, Nilda Pessôa DeBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação 1999-04-29Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Sistemas alternativos para obtenção de imagem aérea e sua aplicação na agriculturaNilda Pessôa de Souza Onofre Trindade Junior1999Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (T S729so e.1 )(Acessar) |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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RAModel<sub>TI</sub>: agregando informações de teste de software no Modelo para Arquiteturas de Referência (RAModel)Nilton Mendes de Souza José Carlos Maldonado2017Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (T S729ra e.1 )(Acessar) |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Sistemas alternativos para obtenção de imagens aéreas e sua aplicação na agriculturaNilda P Souza Onofre Trindade Jr.; Simpósio de Teses e Dissertações (5. 2000 São Carlos); Workshop de Teses e Dissertações Defendidas - ICMC/USP (5. 2000 São Carlos)Anais São Carlos : ICMC - USP, 2000São Carlos 2000Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (PROD-1105127 )(Acessar) |
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Material Type: Relatório Técnico
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Relação entre arquitetura de software e teste de software um mapeamento sistemáticoNilton Mendes de Souza Diógenes Dias Simão; Lucas Bueno Ruas Oliveira; Cristiane Aparecida Lana; Elisa Yumi Nakagawa; José Carlos MaldonadoSão Carlos ICMC-USP 2017Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Are deletion mutants easier to identify manually?Vinícius H. S Durelli (Vinícius Humberto Serapilha Durelli) Nilton M. de Souza (Nilton Mendes de Souza); Márcio Eduardo Delamaro; IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops - ICSTW (10. 2017 Tokyo, Japan)Proceedings Piscataway, NJ : IEEEPiscataway, NJ IEEE 2017Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (PROD 2847345 )(Acessar) |
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Material Type: Artigo
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Strategies to optimize biosensors based on impedance spectroscopy to detect phytic acid using layer-by-layer filmsMarli L. Moraes Rafael M Maki; Fernando Vieira Paulovich; Ubirajara Pereira Rodrigues Filho; Maria Cristina Ferreira de Oliveira; Antônio Riul Júnior; Nara C Souza; Marystela Ferreira; Henrique L Gomes; Osvaldo Novais de Oliveira JuniorAnalytical Chemistry Washington v. 82, n. 8, p. 3239-3246, Apr. 2010Washington 2010Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (PROD-1818520 ) e outros locais(Acessar) |
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Material Type: Artigo
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Strategies to optimize biosensors based on impedance spectroscopy to detect phytic acid using layer-by-layer filmsMarli L. Moraes Rafael M Maki; Fernando Vieira Paulovich; Ubirajara Pereira Rodrigues Filho; Maria Cristina Ferreira de Oliveira; Antônio Riul Júnior; Nara C Souza; Marystela Ferreira; Henrique L Gomes; Osvaldo Novais de Oliveira JuniorAnalytical Chemistry Washington v. 82, n. 8, p. 3239-3246, Apr. 2010Washington 2010Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (PROD-1818520 ) e outros locais(Acessar) |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Speeding up the combination of multiple descriptors for different boundary conditionsCristiane A. Lana (Cristiane Aparecida Lana) Nilton M Souza (Nilton Mendes de Souza); Márcio Eduardo Delamaro; Elisa Yumi Nakagawa; Flavio Oquendo; José Carlos Maldonado; Latin American Computing Conference - CLEI (42. 2016 Valparaiso, Chile)Proceedings Piscataway, NJ : IEEE, 2016Piscataway, NJ IEEE 2016Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (PROD 2841403 )(Acessar) |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Exploring together software architecture and software testing a systematic mappingNilton Mendes de Souza Diógenes Dias; Lucas Bueno Ruas de Oliveira; Cristiane Aparecida Lana; Elisa Yumi Nakagawa; José Carlos Maldonado; International Conference of the Chilean Computer Science Society - SCCC (35. 2016 Valparaíso, Chile)Proceedings Piscataway : IEEE, 2016Piscataway IEEE 2016Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (PROD-3018798 )(Acessar) |