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The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices
The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices
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The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices

Girones, Vincent ; Boch, Jerome ; Carapelle, Alain ; Chapon, Arnaud ; Maraine, Tadec ; Labau, Timothee ; Saigne, Frederic ; Alia, Ruben Garcia

IEEE transactions on nuclear science, 2023-01, Vol.70 (8), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Detecting Anatomical Landmarks for Fast Alzheimer's Disease Diagnosis
Detecting Anatomical Landmarks for Fast Alzheimer's Disease Diagnosis
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Detecting Anatomical Landmarks for Fast Alzheimer's Disease Diagnosis

Zhang, Jun ; Gao, Yue ; Gao, Yaozong ; Munsell, Brent C. ; Shen, Dinggang

IEEE transactions on medical imaging, 2016-12, Vol.35 (12), p.2524-2533

United States: IEEE

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3
Distributed Neural-Network-Based Cooperation Control for Teleoperation of Multiple Mobile Manipulators Under Round-Robin Protocol
Distributed Neural-Network-Based Cooperation Control for Teleoperation of Multiple Mobile Manipulators Under Round-Robin Protocol
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Distributed Neural-Network-Based Cooperation Control for Teleoperation of Multiple Mobile Manipulators Under Round-Robin Protocol

Li, Yuling ; Wang, Liping ; Liu, Kun ; He, Wei ; Yin, Yixin ; Johansson, Rolf

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2023-08, Vol.34 (8), p.4841-4855

United States: IEEE

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4
Design Features and Mutual Compatibility Studies of the Time-of-Flight PET Capable GE SIGNA PET/MR System
Design Features and Mutual Compatibility Studies of the Time-of-Flight PET Capable GE SIGNA PET/MR System
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Design Features and Mutual Compatibility Studies of the Time-of-Flight PET Capable GE SIGNA PET/MR System

Levin, Craig S. ; Maramraju, Sri Harsha ; Khalighi, Mohammad Mehdi ; Deller, Timothy W. ; Delso, Gaspar ; Jansen, Floris

IEEE transactions on medical imaging, 2016-08, Vol.35 (8), p.1907-1914

United States: IEEE

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5
Marginal Space Deep Learning: Efficient Architecture for Volumetric Image Parsing
Marginal Space Deep Learning: Efficient Architecture for Volumetric Image Parsing
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Marginal Space Deep Learning: Efficient Architecture for Volumetric Image Parsing

Ghesu, Florin C. ; Krubasik, Edward ; Georgescu, Bogdan ; Singh, Vivek ; Yefeng Zheng ; Hornegger, Joachim ; Comaniciu, Dorin

IEEE transactions on medical imaging, 2016-05, Vol.35 (5), p.1217-1228

United States: IEEE

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6
A Variable-Flux Hybrid-PM Switched-Flux Memory Machine for EV/HEV Applications
A Variable-Flux Hybrid-PM Switched-Flux Memory Machine for EV/HEV Applications
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A Variable-Flux Hybrid-PM Switched-Flux Memory Machine for EV/HEV Applications

Hui Yang ; Heyun Lin ; Zhu, Z. Q. ; Dong Wang ; Shuhua Fang ; Yunkai Huang

IEEE transactions on industry applications, 2016-05, Vol.52 (3), p.2203-2214 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Neural Networks for Modeling and Control of Particle Accelerators
Neural Networks for Modeling and Control of Particle Accelerators
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Neural Networks for Modeling and Control of Particle Accelerators

Edelen, A. L. ; Biedron, S. G. ; Chase, B. E. ; Edstrom, D. ; Milton, S. V. ; Stabile, P.

IEEE transactions on nuclear science, 2016-04, Vol.63 (2), p.878-897 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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8
Reconstruction of 7T-Like Images From 3T MRI
Reconstruction of 7T-Like Images From 3T MRI
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Reconstruction of 7T-Like Images From 3T MRI

Bahrami, Khosro ; Shi, Feng ; Zong, Xiaopeng ; Shin, Hae Won ; An, Hongyu ; Shen, Dinggang

IEEE transactions on medical imaging, 2016-09, Vol.35 (9), p.2085-2097

United States: IEEE

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9
Toward Electrical Impedance Tomography Coupled Ultrasound Imaging for Assessing Muscle Health
Toward Electrical Impedance Tomography Coupled Ultrasound Imaging for Assessing Muscle Health
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Toward Electrical Impedance Tomography Coupled Ultrasound Imaging for Assessing Muscle Health

Murphy, Ethan K. ; Skinner, Joseph ; Martucci, Maria ; Rutkove, Seward B. ; Halter, Ryan J.

IEEE transactions on medical imaging, 2019-06, Vol.38 (6), p.1409-1419

United States: IEEE

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10
High Breakdown ( > \hbox) AlGaN/GaN HEMTs by Substrate-Transfer Technology
High Breakdown ( > \hbox) AlGaN/GaN HEMTs by Substrate-Transfer Technology
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High Breakdown ( > \hbox) AlGaN/GaN HEMTs by Substrate-Transfer Technology

Bin Lu ; Palacios, Tomás

IEEE electron device letters, 2010-09, Vol.31 (9), p.951-953 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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