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Vacuum-Packaged Suspended Microchannel Resonant Mass Sensor for Biomolecular Detection
Vacuum-Packaged Suspended Microchannel Resonant Mass Sensor for Biomolecular Detection
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Vacuum-Packaged Suspended Microchannel Resonant Mass Sensor for Biomolecular Detection

Burg, T.P. ; Mirza, A.R. ; Milovic, N. ; Tsau, C.H. ; Popescu, G.A. ; Foster, J.S. ; Manalis, S.R.

Journal of microelectromechanical systems, 2006-12, Vol.15 (6), p.1466-1476 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
An eight-channel add-drop filter using vertically coupled microring resonators over a cross grid
An eight-channel add-drop filter using vertically coupled microring resonators over a cross grid
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An eight-channel add-drop filter using vertically coupled microring resonators over a cross grid

Chu, S.T. ; Little, B.E. ; Pan, W. ; Kaneko, T. ; Sato, S. ; Kokubun, Y.

IEEE photonics technology letters, 1999-06, Vol.11 (6), p.691-693

IEEE

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Transversal Loading Sensor Based on Tunable Beat Frequency of a Dual-Wavelength Fiber Laser
Transversal Loading Sensor Based on Tunable Beat Frequency of a Dual-Wavelength Fiber Laser
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Transversal Loading Sensor Based on Tunable Beat Frequency of a Dual-Wavelength Fiber Laser

Hongyan Fu ; Xuewen Shu ; Chengbo Mou ; Lin Zhang ; Sailing He ; Bennion, I.

IEEE photonics technology letters, 2009-07, Vol.21 (14), p.987-989

New York: IEEE

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4
Wafer-bonded bottom-emitting 850-nm VCSEL's on GaP substrates
Wafer-bonded bottom-emitting 850-nm VCSEL's on GaP substrates
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Wafer-bonded bottom-emitting 850-nm VCSEL's on GaP substrates

Chao-Kun Lin ; Sang-Wan Ryu ; Won-Jin Choi ; Dapkus, P.D.

IEEE photonics technology letters, 1999-08, Vol.11 (8), p.937-939

IEEE

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5
Vertical high-mobility wrap-gated InAs nanowire transistor
Vertical high-mobility wrap-gated InAs nanowire transistor
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Vertical high-mobility wrap-gated InAs nanowire transistor

Bryllert, T. ; Wernersson, L.-E. ; Froberg, L.E. ; Samuelson, L.

IEEE electron device letters, 2006-05, Vol.27 (5), p.323-325 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices
The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices
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The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices

Girones, Vincent ; Boch, Jerome ; Carapelle, Alain ; Chapon, Arnaud ; Maraine, Tadec ; Labau, Timothee ; Saigne, Frederic ; Alia, Ruben Garcia

IEEE transactions on nuclear science, 2023-01, Vol.70 (8), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Analysis of Interconnected Oscillators by Dissipativity Theory
Analysis of Interconnected Oscillators by Dissipativity Theory
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Analysis of Interconnected Oscillators by Dissipativity Theory

Stan, G.-B. ; Sepulchre, R.

IEEE transactions on automatic control, 2007-02, Vol.52 (2), p.256-270 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Preparation of PI porous fiber membrane for recovering oil-paper insulation structure
Preparation of PI porous fiber membrane for recovering oil-paper insulation structure
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Preparation of PI porous fiber membrane for recovering oil-paper insulation structure

Zhang, Xiaorui ; Sun, Xue ; Lv, Tong ; Weng, Ling ; Chi, Minghe ; Shi, Jiahao ; Zhang, Siqi

Journal of materials science. Materials in electronics, 2020-08, Vol.31 (16), p.13344-13351 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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9
Comparing Analog Front-Ends for Duty-Cycled Wake-Up Receivers in Wireless Sensor Networks
Comparing Analog Front-Ends for Duty-Cycled Wake-Up Receivers in Wireless Sensor Networks
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Comparing Analog Front-Ends for Duty-Cycled Wake-Up Receivers in Wireless Sensor Networks

Seyed Mazloum, Nafiseh ; Edfors, Ove

IEEE sensors journal, 2016-09, Vol.16 (18), p.7016-7021 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
The Paradigm Shift in Understanding the Bias Temperature Instability: From Reaction-Diffusion to Switching Oxide Traps
The Paradigm Shift in Understanding the Bias Temperature Instability: From Reaction-Diffusion to Switching Oxide Traps
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The Paradigm Shift in Understanding the Bias Temperature Instability: From Reaction-Diffusion to Switching Oxide Traps

Grasser, T. ; Kaczer, B. ; Goes, W. ; Reisinger, H. ; Aichinger, T. ; Hehenberger, P. ; Wagner, P. ; Schanovsky, F. ; Franco, J. ; Luque, María Toledano ; Nelhiebel, M.

IEEE transactions on electron devices, 2011-11, Vol.58 (11), p.3652-3666 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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