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1	Material Type: Artigo		Finite element analysis of narrow dental implants Valera-Jiménez, J.F. ; Burgueño-Barris, G. ; Gómez-González, S. ; López-López, J. ; Valmaseda-Castellón, E. ; Fernández-Aguado, E. Dental materials, 2020-07, Vol.36 (7), p.927-935 [Periódico revisado por pares] England: Elsevier Inc Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Evaluating 3D printed mesh geometries in ceramic LiB electrodes Marín-Rueda, Juan Ramón ; Valera-Jiménez, Jose Fernando ; Ramos-Fajardo, José Miguel ; Peláez-Tirado, Isabel María ; Tair, Sabrina ; Castro-García, Miguel ; Canales-Vázquez, Jesus ; Pérez-Flores, Juan Carlos JPhys Energy, 2024-04, Vol.6 (2), p.025008 [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Impact force measurement using an inertial mass and a digitizer Fujii, Yusaku ; Valera, J D R Measurement science & technology, 2006-04, Vol.17 (4), p.863-868 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		DRUG POLYCONSUMPTION IS ASSOCIATED WITH INCREASED SYNCHRONIZATION OF BRAIN ELECTRICAL-ACTIVITY AT REST AND IN A COUNTING TASK COULLAUT-VALERA, R ; ARBAIZA, I ; BAJO, R ; ARRÚE, R ; LÓPEZ, M. E ; COULLAUT-VALERA, J ; CORREAS, A ; LÓPEZ-SANZ, D ; MAESTU, F ; PAPO, D International journal of neural systems, 2014-02, Vol.24 (1), p.1450005-1-1450005-13 [Periódico revisado por pares] Singapore: World Scientific Publishing Company Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Optical method for strength test for general industrial products Suzuki, Tomokazu ; Fujii, Yusaku ; Valera, J.D.R. Mechanical systems and signal processing, 2006-04, Vol.20 (3), p.735-744 [Periódico revisado por pares] London: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		TEMSPOL: a MATLAB thermal model for deep subduction zones including major phase transformations Negredo, A.M. ; Valera, J.L. ; Carminati, E. Computers & geosciences, 2004-04, Vol.30 (3), p.249-258 [Periódico revisado por pares] Oxford: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		IMPACT RESPONSE MEASUREMENT OF A HUMAN ARM Fujii, Y. ; Yamaguchi, T. ; Valera, J. D. R. Experimental techniques (Westport, Conn.), 2006-05, Vol.30 (3), p.64-68 Malden, USA: Blackwell Publishing Inc Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Multidimensional filtering approaches for pre-processing thermal images Valdes, Maria del C. ; Inamura, Minoru ; Valera, J. D. R. ; Lu, Yao Multidimensional systems and signal processing, 2006-12, Vol.17 (4), p.299-325 [Periódico revisado por pares] New York: Springer Nature B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	$Diffraction-compensated free-space WDM add-drop module with thin-film filters$ $Diffraction-compensated free-space WDM add-drop module with thin-film filters$ Material Type: Artigo		Diffraction-compensated free-space WDM add-drop module with thin-film filters Honda, T. ; Liu, A.C. ; Valera, J. ; Colvin, J. ; Sawyer, K. ; McLeod, R.R. IEEE photonics technology letters, 2003-01, Vol.15 (1), p.69-71 New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Calculations of nonlinear TE waves guided by thin dielectric films bounded by nonlinear media Seaton, C. ; Valera, J. ; Shoemaker, R. ; Stegeman, G. ; Chilwell, J. ; Smith, S. IEEE journal of quantum electronics, 1985-07, Vol.21 (7), p.774-783 [Periódico revisado por pares] New York, NY: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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