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A new look at the statistical model identification
A new look at the statistical model identification
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A new look at the statistical model identification

Akaike, H.

IEEE transactions on automatic control, 1974-12, Vol.19 (6), p.716-723 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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2
Class E-A new class of high-efficiency tuned single-ended switching power amplifiers
Class E-A new class of high-efficiency tuned single-ended switching power amplifiers
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Class E-A new class of high-efficiency tuned single-ended switching power amplifiers

Sokal, N.O. ; Sokal, A.D.

IEEE journal of solid-state circuits, 1975-06, Vol.10 (3), p.168-176 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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3
On self tuning regulators
On self tuning regulators
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On self tuning regulators

Åström, K.J. ; Wittenmark, B.

Automatica (Oxford), 1973-01, Vol.9 (2), p.185-199 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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4
Uniqueness of the maximum likelihood estimates of the parameters of an ARMA model
Uniqueness of the maximum likelihood estimates of the parameters of an ARMA model
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Uniqueness of the maximum likelihood estimates of the parameters of an ARMA model

Astrom, K. ; Soderstrom, T.

IEEE transactions on automatic control, 1974-12, Vol.19 (6), p.769-773 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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5
Numerical Solution of Steady-State Electromagnetic Scattering Problems Using the Time-Dependent Maxwell's Equations
Numerical Solution of Steady-State Electromagnetic Scattering Problems Using the Time-Dependent Maxwell's Equations
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Numerical Solution of Steady-State Electromagnetic Scattering Problems Using the Time-Dependent Maxwell's Equations

Taflove, A. ; Brodwin, M.E.

IEEE transactions on microwave theory and techniques, 1975-08, Vol.23 (8), p.623-630 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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6
A uniform geometrical theory of diffraction for an edge in a perfectly conducting surface
A uniform geometrical theory of diffraction for an edge in a perfectly conducting surface
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A uniform geometrical theory of diffraction for an edge in a perfectly conducting surface

Kouyoumjian, R.G. ; Pathak, P.H.

Proceedings of the IEEE, 1974-01, Vol.62 (11), p.1448-1461 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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7
System identification—A survey
System identification—A survey
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System identification—A survey

Åström, K.J. ; Eykhoff, P.

Automatica (Oxford), 1971-01, Vol.7 (2), p.123-162 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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8
The Fourier reconstruction of a head section
The Fourier reconstruction of a head section
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The Fourier reconstruction of a head section

Shepp, L. A. ; Logan, B. F.

IEEE transactions on nuclear science, , Vol.21 (3), p.21-43 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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9
The soliton: A new concept in applied science
The soliton: A new concept in applied science
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The soliton: A new concept in applied science

Scott, A.C. ; Chu, F.Y.F. ; McLaughlin, D.W.

Proceedings of the IEEE, 1973-01, Vol.61 (10), p.1443-1483 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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10
Field-effect transistor versus analog transistor (static induction transistor)
Field-effect transistor versus analog transistor (static induction transistor)
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Field-effect transistor versus analog transistor (static induction transistor)

Nishizawa, J. ; Terasaki, T. ; Shibata, J.

IEEE transactions on electron devices, 1975-04, Vol.22 (4), p.185-197 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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