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Cementation of a low-level radioactive waste of complex chemistry: Investigation of the combined action of borate, chloride, sulfate and phosphate on cement hydration using response surface methodology
Cementation of a low-level radioactive waste of complex chemistry: Investigation of the combined action of borate, chloride, sulfate and phosphate on cement hydration using response surface methodology
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Cementation of a low-level radioactive waste of complex chemistry: Investigation of the combined action of borate, chloride, sulfate and phosphate on cement hydration using response surface methodology

Cau Dit Coumes, C. ; Courtois, S. WCA

Cement and concrete research, 2003-03, Vol.33 (3), p.305-316 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Elsevier Ltd

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2
Dimensional stability under wet curing of mortars containing high amounts of nitrates and phosphates
Dimensional stability under wet curing of mortars containing high amounts of nitrates and phosphates
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Dimensional stability under wet curing of mortars containing high amounts of nitrates and phosphates

Bénard, P. ; Cau Dit Coumes, C. ; Garrault, S. ; Nonat, A. ; Courtois, S.

Cement and concrete research, 2008-10, Vol.38 (10), p.1181-1189 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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3
In-situ sensors for product reliability monitoring
In-situ sensors for product reliability monitoring
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In-situ sensors for product reliability monitoring

Mishra, Satchidananda ; Pecht, Michael ; Goodman, Douglas L

SPIE proceedings series, 2002, Vol.4755, p.10-19

Bellingham WA: SPIE

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4
Special Section NANOTECH 2013
Special Section NANOTECH 2013
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Special Section NANOTECH 2013

Courtois, Bernard Courtois, Bernard

Microelectronics, 2014-07, Vol.45 (7), p.930-930

Elsevier Ltd

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5
March SS: a test for all static simple RAM faults
March SS: a test for all static simple RAM faults
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

March SS: a test for all static simple RAM faults

Hamdioui, S. ; van de Goor, A.J. ; Rodgers, M.

Proceedings of the 2002 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing (MTDT2002), 2002, p.95-100

IEEE

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Special section NANOTECH 2011
Special section NANOTECH 2011
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Special section NANOTECH 2011

Courtois, Bernard Courtois, Bernard

Microelectronics, 2012-05, Vol.43 (5), p.299-299

Elsevier Ltd

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7
Modular approach for simulation-based optimization of MEMS
Modular approach for simulation-based optimization of MEMS
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Modular approach for simulation-based optimization of MEMS

Schneider, Peter ; Huck, E ; Reitz, S ; Parodat, Sandra ; Schneider, Andre ; Schwarz, Peter

SPIE proceedings series, 2000, Vol.4228, p.71-82

Bellingham WA: SPIE

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8
Optimization criteria of CMOS-compatible thermopile sensors
Optimization criteria of CMOS-compatible thermopile sensors
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Optimization criteria of CMOS-compatible thermopile sensors

Du, Chen-Hsun ; Lee, Cheng-Kuo

SPIE proceedings series, 1999, Vol.3893, p.116-126

Bellingham WA: SPIE

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9
CAD modeling of scratch drive actuation
CAD modeling of scratch drive actuation
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

CAD modeling of scratch drive actuation

Finch, Nora ; Marchetti, James ; Fujita, Hiroyuki ; Gouy, Jean-Philippe

SPIE proceedings series, 2000, Vol.4228, p.83-89

Bellingham WA: SPIE

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10
Fabrication of fine metal microstructures packaged in the bonded glass substrates
Fabrication of fine metal microstructures packaged in the bonded glass substrates
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Fabrication of fine metal microstructures packaged in the bonded glass substrates

Kawamura, Akihito ; Ike, Shinichi ; Shoji, Shuichi

SPIE proceedings series, 1999, Vol.3893, p.486-493

Bellingham WA: SPIE

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