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The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices
The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices
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The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices

Girones, Vincent ; Boch, Jerome ; Carapelle, Alain ; Chapon, Arnaud ; Maraine, Tadec ; Labau, Timothee ; Saigne, Frederic ; Alia, Ruben Garcia

IEEE transactions on nuclear science, 2023-01, Vol.70 (8), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Distributed Neural-Network-Based Cooperation Control for Teleoperation of Multiple Mobile Manipulators Under Round-Robin Protocol
Distributed Neural-Network-Based Cooperation Control for Teleoperation of Multiple Mobile Manipulators Under Round-Robin Protocol
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Distributed Neural-Network-Based Cooperation Control for Teleoperation of Multiple Mobile Manipulators Under Round-Robin Protocol

Li, Yuling ; Wang, Liping ; Liu, Kun ; He, Wei ; Yin, Yixin ; Johansson, Rolf

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2023-08, Vol.34 (8), p.4841-4855

United States: IEEE

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3
Convection-Reaction Equation Based Magnetic Resonance Electrical Properties Tomography (cr-MREPT)
Convection-Reaction Equation Based Magnetic Resonance Electrical Properties Tomography (cr-MREPT)
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Convection-Reaction Equation Based Magnetic Resonance Electrical Properties Tomography (cr-MREPT)

Hafalir, Fatih S. ; Oran, Omer F. ; Gurler, Necip ; Ider, Yusuf Z.

IEEE transactions on medical imaging, 2014-03, Vol.33 (3), p.777-793

United States: IEEE

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4
Theoretical Investigation of Random Noise-Limited Signal-to-Noise Ratio in MR-Based Electrical Properties Tomography
Theoretical Investigation of Random Noise-Limited Signal-to-Noise Ratio in MR-Based Electrical Properties Tomography
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Theoretical Investigation of Random Noise-Limited Signal-to-Noise Ratio in MR-Based Electrical Properties Tomography

Seung-Kyun Lee ; Bulumulla, Selaka ; Hancu, Ileana

IEEE transactions on medical imaging, 2015-11, Vol.34 (11), p.2220-2232

United States: IEEE

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5
Heavy-Ion-Induced Degradation in SiC Schottky Diodes: Incident Angle and Energy Deposition Dependence
Heavy-Ion-Induced Degradation in SiC Schottky Diodes: Incident Angle and Energy Deposition Dependence
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Heavy-Ion-Induced Degradation in SiC Schottky Diodes: Incident Angle and Energy Deposition Dependence

Javanainen, Arto ; Turowski, Marek ; Galloway, Kenneth F. ; Nicklaw, Christopher ; Ferlet-Cavrois, Veronique ; Bosser, Alexandre ; Lauenstein, Jean-Marie ; Muschitiello, Michele ; Pintacuda, Francesco ; Reed, Robert A. ; Schrimpf, Ronald D. ; Weller, Robert A. ; Virtanen, A.

IEEE transactions on nuclear science, 2017-08, Vol.64 (8), p.2031-2037 [Periódico revisado por pares]

Goddard Space Flight Center: IEEE

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6
Label Fusion in Atlas-Based Segmentation Using a Selective and Iterative Method for Performance Level Estimation (SIMPLE)
Label Fusion in Atlas-Based Segmentation Using a Selective and Iterative Method for Performance Level Estimation (SIMPLE)
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Label Fusion in Atlas-Based Segmentation Using a Selective and Iterative Method for Performance Level Estimation (SIMPLE)

Langerak, Thomas Robin ; van der Heide, U A ; Kotte, A N T J ; Viergever, M A ; van Vulpen, M ; Pluim, J P W

IEEE transactions on medical imaging, 2010-12, Vol.29 (12), p.2000-2008

United States: IEEE

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7
A Quatro-Based 65-nm Flip-Flop Circuit for Soft-Error Resilience
A Quatro-Based 65-nm Flip-Flop Circuit for Soft-Error Resilience
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A Quatro-Based 65-nm Flip-Flop Circuit for Soft-Error Resilience

Li, Y.-Q ; Wang, H.-B ; Liu, R. ; Chen, L. ; Nofal, I. ; Shi, S.-T ; He, A.-L ; Guo, G. ; Baeg, S. H. ; Wen, S.-J ; Wong, R. ; Chen, M. ; Wu, Q.

IEEE transactions on nuclear science, 2017-06, Vol.64 (6), p.1554-1561 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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8
Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross Section Curves
Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross Section Curves
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Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross Section Curves

Kobayashi, Daisuke ; Uematsu, Masashi ; Hirose, Kazuyuki

IEEE transactions on nuclear science, 2023-04, Vol.70 (4), p.707-713 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Streaming DAQ Software Prototype at the J-PARC Hadron Experimental Facility
Streaming DAQ Software Prototype at the J-PARC Hadron Experimental Facility
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Streaming DAQ Software Prototype at the J-PARC Hadron Experimental Facility

Takahashi, Tmonori ; Honda, Ryotaro ; Igarashi, Youichi ; Sendai, Hiroshi

IEEE transactions on nuclear science, 2023-06, Vol.70 (6), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Speckle Reduction in 3D Optical Coherence Tomography of Retina by A-Scan Reconstruction
Speckle Reduction in 3D Optical Coherence Tomography of Retina by A-Scan Reconstruction
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Speckle Reduction in 3D Optical Coherence Tomography of Retina by A-Scan Reconstruction

Jun Cheng ; Dacheng Tao ; Ying Quan ; Wong, Damon Wing Kee ; Cheung, Gemmy Chui Ming ; Akiba, Masahiro ; Jiang Liu

IEEE transactions on medical imaging, 2016-10, Vol.35 (10), p.2270-2279

United States: IEEE

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